J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统使用Clarity复合系统分析软件，分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行准确的定量分析。通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度，单变量校准曲线可轻松生成。该软件附带一个常用的固态标样，用于单变量校准，Axiom LA软件是ICP-MS数据管理和分析工具，这些工具对于获得精确的定量结果和精确的统计非常重要，同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。

元素的快速深度剖析：
在目标点的重复激光采样过程中，Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker?能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。

设备特点：
1、紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；
2、高硬度Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器波长低至213nm；
3、可将LIBS强度和时间分辨的ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图；
4、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法；
5、多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像；
6、双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门，硬件部件的全面控制与测量自动化；
7、应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够同时测定主要元素、微量元素以及同位素，快速绘制元素图，J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。这一特性使得J200能够保持精确的激光聚焦，不论高度差异如何，在所有采样点上提供相同的激光通量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由应用光谱公司的科学团队开发的一项技术，其本人从事激光与材料相互作用机理及相关应用研究达30余年，对于光谱仪器、成像系统、计算及电子器件具有丰富的经验。