局部放电检测仪的技术指标
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114次局放理论概述
在开始我们的实验以前,我们首先应该对局部放电有个初步的了解,为什么要测量局部放电?局部放电有什么危害?怎样准确测量局部放电?有了上述理论基础可以帮助我们理解测量过程中的正确操作。
局部放电的定义及产生原因
在电场作用下,绝缘系统中只有部分区域发生放电,但尚未击穿,(即在施加电压的导体之间没有击穿)。这种现象称之为局部放电。局部放电可能发生在导体边上,也可能发生在绝缘体的表面上和内部,发生在表面的称为表面局部放电。发生在内部的称为内部局部放电。而对于被气体包围的导体附近发生的局部放电,称之为电晕。由此 总结一下局部放电的定义,指部分的桥接导体间绝缘的一种电气放电,局部放电产生原因主要有以下几种:
1、 电场不均匀。
2、 电介质不均匀。
3、 制造过程的气泡或杂质。最经常发生放电的原因是绝缘体内部或表面存在气泡;其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩,不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同,也会逐渐出现裂缝;再有一些是在运行过程中有机高分子的老化,分解出各种挥发物,在高场强的作用下,电荷不断地由导体进入介质中, 在注入点上就会使介质气化。
主要技术指标:
1.可测试品的电容范围: 6PF—250uF。
2.检测灵敏度(见表一):
表一
输入单 元序号 | 调 谐 电 容 | 单 位 | 灵敏度(微微库) (不对称电路) |
1 | 6-25-100 | 皮 法 | 0.02 |
2 | 25-100-400 | 皮 法 | 0.04 |
3 | 100-400-1500 | 皮 法 | 0.06 |
4 | 400-1500-6000 | 皮 法 | 0.1 |
5 | 1500-6000-25000 | 皮 法 | 0.2 |
6 | 0.006-0.025-0.1 | 微 法 | 0.3 |
7 | 0.025-0.1-0.4 | 微 法 | 0.5 |
8 | 0.1-0.4-1.5 | 微 法 | 1.0 |
9 | 0.4-1.5-6.0 | 微 法 | 1.5 |
10 | 1.5-6.0-25 | 微 法 | 2.5 |
11 | 6.0-25-60 | 微 法 | 5.0 |
12 | 25-60-250 | 微 法 | 10 |
7R | 电 阻 | 0.5 |
3、放大器频带:
(1)低端:10KHZ、20KHZ、40KHZ任选。
(2)gao端:80KHZ、200KHZ、300KHZ任选。
4、放大器增益调节:
粗调六档,档间增益20±1dB;细调范围≥20dB。每档之间数据为10倍关系:如第三档检测数据为98,则第二档显示数据为9.8,如在第三档检测数据超过120,则应调至第二档来检测数据,所得数据应乘以10才为实际测量值。
5、时间窗:
(1)窗宽:可调范围15°-175°;
(2)窗位置:每一窗可旋转0°- 180°;
(3)两个时间窗可分别开或同时开。
6、放电量表:
0-10*<±3%(以满度计)。
7、椭圆时基:
(1)频率:50HZ、或外部电源同步(任意频率)
(2)椭圆旋转:以30°为一档,可作360°旋转。
(3)显示方式:椭圆—直线。
8、试验电压表:
精度:优于±3%(以满度计)。
9、体积: 320×480×190(宽×深×高)mm3。
10、重量:约15Kg。
三、系统工作原理:
本机的局部放电测试原理是高频脉冲电流测量法(ERA法)。
试品Ca在试验电压下产生局部放电时,放电脉冲信号经藕合电容Ca送入输入单元,由输入单元拾取到脉冲信号,经低噪声前置放大器放大,滤波放大器选择所需频带及主放大器放大(达到所需幅值与产生零标志脉冲)后,在示波屏的椭圆扫描基线上产生可见的放电脉冲,同时也送至脉冲峰值表显示其峰值。
时间窗单元控制试验电压每一周期内脉冲峰值的工作时间,并在这段时间内将示波屏的相应显示区加亮,用它可以排除固定相位的干扰。
试验电压表经电容分压器产生试验电压过零标志讯号,在示波屏上显示零标脉冲,椭圆时基上两个零标脉冲,通过时间窗的宽窄调节可确定试验电压的相位,试验电压大小由数字电压表指示。
整个系统的工作原理可参看方框图(图一)。