本系统主要用于高低温下的压电块体陶瓷样品的全mian电性能和机电性能的表征。

压电测试温度可以达到-100℃到+600℃。

大信号和小信号材料的特征可以在一定温度范围内表征。样品上的电流响应测量是通过**的虚拟接地方法衡量电压激励信号。样品的微位移同时通过激光干涉仪进行测量。

应用：
材料性能的研究与开发
器件质量
大信号和小信号测试
温度依赖性测试
可靠性和疲劳试验
漏电流测试

优点：
一个系统就可以进行块体陶瓷材料的压电和铁电性能进行综合评价，如传感器和执行器
单一软件进行外部硬件控制（如温度控制器、高压放大器、位移传感器、示波器）和数据采集
远程接入和脚本控制
选件可实现数据库连接（ODBC）方便对材料/设备进行表征
针对用户应用和要求的硬件
升级服务，用户支持

特点：
支持的硬件：
内置或外置的高压放大器（+/-100V到+/-10 kV）
块体陶瓷样品夹具
温度控制器和温度腔
位移传感器（如激光干涉仪、电容或电感）
外置锁相放大器或阻抗桥

测试功能：
大信号电极化和位移（单一极化和双化）
小信号电容、损耗、压电系数与单一和双极直流偏压
电性能和机电性能随温度的变化研究
热释电测试
漏电流测试
疲劳测试
阻抗测试
用户定义激励波形

软件：
Windows 7操作系统
通过GPIB或以太网的远程接入和脚本控制
通过ODBC接口的数据库连接
测试数据通过ASCII形式输出
测试数据交换通过aixPlorer软件或Resonance Analyzer。