品牌
生产厂家厂商性质
北京市所在地
薄膜介质损耗测试仪
(1) | 极间法向电容(单位:皮法和厘米)(2) | 边缘电容的校正(单位:皮法和厘米)(3) |
1.有保护环的圆盘状电极 | ||
2.没有保护环的圆盘状电极 | ||
a)电极直径=试样直径 | ||
b)上下电极相等,但比试样小 | 其中:ε1 是试样相对电容率的近似值,并且a≤h |
(1) | 极间法向电容(单位:皮法和厘米)(2) | 边缘电容的校正(单位:皮法和厘米)(3) |
c)电极直径=试样直径 | 其中:ε1 是试样相对电容率的近似值,并且a≤h | |
3.有保护环的圆柱形电极 | ||
4.没有保护环的圆柱形电极 | ||
其中:ε1 是试样相对电容率的近似值 |
试样电容 | 注 | 符号定义’ |
1.并联一个标准电容器来替代试样电容 | CP——试样的并联电容△C——取去试样后,为恢复平衡时的标准电容器的电容增量Cr——在距离为r时,测微计电极的标定电容Cs——取去试样后,恢复平衡,测微计电极间距为s时的标定电容Cor,Coh——测微计电极之间试样所占据的,间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度h——试样厚度相对电容率: | |
CP=△C+Cor | 试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。 | |
2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容 | ||
CP=Cs-Cr+Cor | 试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。 | |
3.并联一个标准电容器来替代试样电容当试样与电极的直径同样大小时,仅存在一个微小的误差(因电极边缘电场畸变引起0.2%〜0.5%的误差),因而可以避免空气电容的两次计算。 | ||
CP=△C+Coh | 试样直径等于测微计电极直径,施于试样上的电极的厚度为零。 |
相对电容率(1) | 介质损耗因数(2) | 符号意义(3) |
1.测微计电极(在空气中) | ||
若ho 调到一个新值h'o,而△C=0时 | tanδx= tanδc +M·εr·△tanδ | △C——试样插人时电容的改变量(电容增加时为+号)C1——装有试样时的电容C1——仅有流体时的电容,其值为εr•CoCo——所考虑的区域上的真空电容,其值为εo•A/h0A——试样一个面的面积,用 厘米2表示(试验的面积大于等于电极面积时)ε1——在试验温度下的流体相对电容率(对空气而言εr =1. 00)ε0——电气常数用皮法/厘米表示△tanδ——试样插入时,损耗因数的增加量tanδc——装有试样时的损耗因数tanδx试样的损耗因数的计算值d0——内电极的外直径 d1——试样的内直径 d2试样的外直径d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距h——试样的平均厚度M——h0 /h—1lg――常用对数注;在二流体法的公式中,脚注1和2分别表示种和第二种流体。 |
2. 平板电极——流体排出法 | ||
tanδx= tanδc +M·εr·△tanδ | ||
当试样的损耗因数小于1时,可以用下列公式: | ||
3. 圆柱形电极——流体排出法(用于tanδ小于0.1时) | ||
4. 二流体法——平板电极(用于tanδx小于0. 1时) | ||
1——测微计头; | 6——微调电容器; |
2——连接可调电极(B)的金属波纹管; | 7——接检测器; |
3——放试样的空间(试样电容器M1; | 8——接到电路上; |
4——固定电极(A); | 9——可调电极(B)。 |
5——测微计头; |
1——内电极; | 1——把柄; |
2——外电极; | 5——棚硅酸盐或石英垫圈; |
3——保护环; | 6——硼硅酸盐或石英垫圈。 |