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高压开关动特性测试仪校验装置的结构原理

时间:2020-07-30      阅读:91

高压开关动特性测试仪校验装置的结构原理

高压开关动特性测试仪校验装置的总体结构主要包括微处理器、交/直流输入转换、模/数转换、识别电路、精密时基电路以及人机友好界面显示等部分,在硬件平台的基础上,配备的软件编辑,囊括了计算机技术、数字信号处理技术、检测技术等,能够的完成对高压开关动特性测试仪电量输出参量、开关动作时间参量等功能的校验工作。

由校验装置总体结构图可知,该校验装置中主要通过两个处理通道来完成校验任务。一个是将电压信号输出送到衰减电路中,然后再送入A/D转换电路中,通过光耦再送到MCU中进行运算处理,后通过LCD显示结果,从而完成对高压开关动特性测试仪电量参量的校验。另外一个开关动作信号通过输入电路调整为本电路相匹配的信号,然后输送到识别电路,转换成MCU可以识别出的数字信号,经过光耦后由MCU进行运算处理,对处理后的结果执行相应动作,然后对外输出控制信号,以完成对开关动作时间参量的校验。人机友好界面主要包括液晶显示器和操作按键。

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