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测量精度:R的基本精度为±0.4%
测量时间:从触发命令到处理器界面端口上的结束测量(EOM)信号输出的时间间隔
模式 时间(典型值)
短 34ms
中等 70ms
长 900ms
修正功能
短路误差为0:消除由测试夹具中杂散寄生阻抗引的测量误差
比较功能
对每个一次测量参数和二次测量参数设立高/符合/低界限
接触检查功能
可以检测测试夹具与器件之间的接触故障
其它功能
叠加直流:在测量端可能给出±42Vdc(zui大值)
存储/调用:可以由内部非易失存储器对10种仪器设置进行存储/调 用
连续存储功能:若仪器被切断或发生电源故障,仪器设置将自动被存 储起来(在23±5℃时≤72小时)
HP-IB接口:所有控制设置、被测值和比较器信息
处理器接口:所有输出信号为负逻辑,光隔离开路集电极
输出信号包括:高/符合/低、变址,测量结束和告警。输入信号是健锁定和外触发
一般指标
电源要求:198~264V,47~66Hz,45VAmax
工作温度:0°~45℃
尺寸:320mm(宽)×100mm(高)×300mm(长)
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技术指标
(全面的技术指标请参阅技术资料)
测量功能
测量参数:R(交流电阻),X(电抗),L(电感),|Z|(阻抗),θ(相位[°])
组合参数:R,R-X,R-L,|Z|-θ(只适用于串联模式)
数学功能:偏差和相对偏差(以百分比表示)
显示数字:3.4或5位(可选择)
测试信号特性
测试频率:1kHz
频率精度:±0.1%
测试信号电平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms
电平精度:±(10%+0.2μA)
样品两端的zui大电压:在任何情况下zui大为20mV峰值
测量范围
参数 测量范围
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~+180°(典型值)
高速测量
高速(34ms)内设比较器和HP-IB/处理器接口有可能用自动处理器和外部计算机构成一个测量系统,使生产测试时间缩短到zui低限度。
自动测量方式
在进行大量连续的测试、而测试信号电平又不是很主要的因素时,自动测量功能会使仪器选择合适的测试信号并设定测量范围。