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四探针高温电阻率测试仪现货
用于：企业、高等校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
三.型号及参数Models and technical parameters：
| 规格型号Models | FT-351A | FT-351B | FT-351C |
| 1.方块电阻范围sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ | 10-6～2×105Ω/□ | 10-4～1×107Ω/□ |
| 2.电阻率范围resistivity range | 10-6～2×106Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm | 10-5～2×108Ω-cm |
| 3.测试电流范围test current range | 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA |
FT-352导体材料高温电阻率测试系统
运用四端测量方法测试材料电阻、电导率和电阻率，并配合高温箱结合高温治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决导体材料的电导率对温度变化测量要求，软件实时绘制出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线图谱，及过程数据值的报表分析.具有气氛保护功能.
参数资料 data
| 规格/型号 | FT-352A | FT-352B |
| 1.电阻范围sheet resistance range | 10-7～2×107Ω | 10-8～2×104Ω |
| 2.电阻率范围resistivity range | 10-7～2×107Ω-cm | 10-8～2×104Ω-cm |
| 电导率 Electrical conductivity | 5×10-7～107s/cm | 10-4～5×108s/cm |
