赤松城推广芯片可靠性测试设备
时间:2019-11-25 阅读:1654
赤松城推广芯片可靠性测试-Flash/EEPROM 设备
本产品是一种功能测试系统(FCT),针对于EEPRORM、Flash样品测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。
产品特性:
Ø 脚本管理测试用例/底层协议,不需学习ARM/FPGA编程;
Ø 测试脚本可下载到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;
Ø 单板16个数字通道(可定制),2个可调电源,1个可调时钟;
Ø 支持4行*4列=16个SPI接口同测;
Ø 电压可编程,0V~5.5V,精度+/-10mV;;
Ø 测试时钟可编程,高40MHz;
Ø 测试脚本可编程;
Ø 固件缓存可存储10K条命令,支持循环命令,支持连续下载测试脚本;
Ø 固件含512条错误存储空间;
Ø 可在线调试;
Ø 独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;
Ø 可在线升级FPGA固件,以适用不同产品测试;
Ø USB接口与PC机通信
Ø 子板支持-40C~150C高低温测试