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赤松城推广芯片可靠性测试设备

时间:2019-11-25      阅读:1654

赤松城推广芯片可靠性测试-Flash/EEPROM 设备

本产品是一种功能测试系统(FCT),针对于EEPRORM、Flash样品测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。

产品特性: 

Ø  脚本管理测试用例/底层协议,不需学习ARM/FPGA编程;

Ø  测试脚本可下载到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;

Ø  单板16个数字通道(可定制),2个可调电源,1个可调时钟;

Ø  支持4行*4列=16个SPI接口同测;

Ø  电压可编程,0V~5.5V,精度+/-10mV;;

Ø  测试时钟可编程,高40MHz;

Ø  测试脚本可编程;

Ø  固件缓存可存储10K条命令,支持循环命令,支持连续下载测试脚本;

Ø  固件含512条错误存储空间;

Ø  可在线调试;

Ø  独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;

Ø  可在线升级FPGA固件,以适用不同产品测试;

Ø  USB接口与PC机通信

Ø 子板支持-40C~150C高低温测试

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