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PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议TSI POWERSIGHT固体激光器的激光多普勒测速仪LDV-华普通用
面议德国蔡司 GeminiSEM 场发射扫描电子显微镜-华普通用
面议德国斯派克GREEN TI 等离子体发射光谱仪-华普通用
面议高性能全自动压汞仪AutoPore V系列-华普通用
面议ZEISS MICURA小型工件的高精度三坐标测量机-华普通用
面议ZEISS METROTOM三维 X 射线工业CT检测-华普通用
面议德国蔡司自动化数码显微镜Smartzoom 5-华普通用
面议德国蔡司共聚焦显微镜Smartproof 5-华普通用
面议档案扫描美化系统-华普通用
面议德国蔡司ZEISS钨灯丝扫描电镜EVO18-华普通用
面议日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100
面议分光光谱仪种类
MCPD-9800:高动态范围分光
MCPD-6800:紫外/可见/近红外光分光光谱仪
MCPD-7700:高感度分光
膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜
膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜
LB膜测量
蒸馏膜测量
多点膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剥离液厚度、湿狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)
树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜