产品主要特点
1.采用SL微型冷却器作为制冷源；这是和一般冷镜式露点仪的差别之处
2.采用巡检自清洁式测量法；
3.采用抗电磁干扰模块设计；
 
 
特点介绍与分析
1.制冷源——制冷源是冷镜式露点以的核心部件，制冷源的优劣直接影响了露点仪的测量范围、测量精度、工作环境等主要指标。
目前电力行业所采用的冷镜式露点仪均采用帕尔帖制冷片作为制冷源，帕尔帖制冷片采用热电原理使热量转移达到制冷的目前，该原理在制冷过程中，制冷片的一面不断的吸收环境热能转移至制冷片的另一面，当该循环与环境温度达到一定平衡时，制冷面的温度与环境温度进行温差累计，则为该制冷片所能提供的温差。的目前较高品质的帕尔帖冷堆可提供70℃的温差，当环境温度达到40℃时，其实际制冷极限为-30℃。电力行业中，对于SF6设备中绝缘气体的含水量合格标准为≤150ppm，换算成露点温度为≤-38.5℃，当采用帕尔帖作为冷源的冷镜式露点仪在环境温度高于31.5℃的工况下使用时，已达不到其测量基础要求，无法正常进行检测。为了避免这一现象，业内采用了多片帕尔帖堆叠，形成制冷堆的方式进行多级制冷，这一方法需要多级递增的帕尔帖制冷片来实现，但当多个制冷片堆叠后，产生了串热现象，实际制冷效果并不明显，且需额外配备大型散热器件，总体成本增加较高。
KST-V冷镜式露点仪采用了公司自主研发的SL微型冷却器作为制冷源，SL微型冷却器原型为深低温制冷机，采用回热式气体制冷原理，建站低制冷温度可达-200℃以下，普遍应用于低温试验室、航空航天、军事设备、基因工程等领域。公司针对民品露点仪行业研制的SL系列微型冷却器将整机制冷功率控制在行业需求范围内，使得制造成本大幅降低，从而使这一高品质制冷器件得以在普通行业得到应用。SL微型冷却器采用的斯特林热力循环原理是目前效率建站高的热力循环原理，相较于帕尔帖采用的热电循环原理，具有更高的热/冷累计效率，这使得SL微型冷却器无需复杂冷能堆叠便可轻松实现理想制冷性能，同时也避免了由于冷能堆叠所产生的负面影响，所以SL微型冷却器具有制冷范围广、制冷速度快、环境适用性强等优点，可在较高环境温度的工况下正常工作。目前国际一线露点仪品牌也相继升级研制了采用半斯特林制冷技术的冷镜式露点仪，如英国michelle、瑞士MBW等。
 

2.测量方法——冷镜式露点以其主要测量原理为冷镜原理，该原理依据不同水份含量的气体在不同温度下的镜面上会结露的特性而实现，基于冷镜测量原理，合适的测量方法可以使设备准确的判断出被测气体的真实露点温度。目前基于冷镜测量原理的测量方法有目测法、平衡法、巡检法。其中目测法为建站早一代的冷镜测露点测量法，通过肉眼观察冷镜表面结露情况来判断露点温度，该测量法由于操作性差，精度误差大，重复性差等原因，目前已逐渐淘汰。平衡法是目前比较普遍的第二代露点测量法，通过光电检测技术与冷镜原理相结合，通过不断的对冷镜表面霜层厚度进行平衡，建站终计算出气体露点温度。该测量法在设备及气体管道环境相对干燥清洁时，具有较好的测量精度，且为全自动测量，操作简单，使用方便。平衡法由于其测量方式的特性，在气体杂质较高、气体管路清洁程度不够、环境条件差、设备保存不善内部污染等情况下，其检测精度则大幅降低。出现这种现象的主要原因是由于其在测量过程中，冷镜表面持续不断冷凝气体中的水份，同时气体中的污染物将一起被凝结在镜面之上，在污染物过多时，使光电检测模块发生误判，发生提前或延后判定露点温度的现象，其测量值与实际露点值便会存在较大误差。

3.巡检式测量法正是为了弥补平衡测量法目前存在的几大缺陷而开发的新一代冷镜露点测量方法，它与平衡法在原理方面相同，都是通过冷镜原理与光电检测技术结合，不同的地方在于，巡检测量法摒弃了平衡法通过冷镜表面霜层厚度计算露点的方式，采用了更科学更直接可靠的直接测量形式，在冷镜表面出现霜点的一瞬间，光电系统便将其数据记录，通过科学的算法还原出精确的结露温度。由于没有不断平衡霜层的过程，在同等测量条件下，巡检测量法的测量速度将优于平衡测量法。巡检测量法的另一大特点便是其自清洁功能，在冷镜表面出现霜点的一瞬间，除了光电系统记录其结露数据外，冷镜表面则已经开始升温，直至冷镜表面霜点融化，伴随着气流，冷镜表面水分及污染物将一起被吹扫清楚，为下一次测量做好准备。该测量方法极大的降低了冷镜镜面被污染概率，提高了设备的测量精度及环境适应性，延长了设备维护周期。

4.3.电磁干扰——在电力行业中，仪器设备受电磁干扰是比较常见的现象，轻微的电磁干扰便能使设备性能降低，严重的则可能造成设备的损毁。针对电力用户使用环境，电力露点仪内部采用了抗电磁干扰模块设计，内置独立的供电模块，避免了电网干扰，产品核心部件则均采用耐电磁干扰材料屏蔽层或镀层进行防护，电源传导与信号传递同样进行了合理的抗电磁干扰设计。公司自主研发的露点测量软件采用了自我修正及较差比对措施，极大的降低了因电磁干扰而产生的设备性能受损现象。