LH-200J-日本KETT LH-200J 涂层测厚仪膜厚计-,膜厚计深圳市欧野电子有限公司手机版

LH-200J日本KETT LH-200J 涂层测厚仪膜厚计

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准

2018-05-31 23:51:09: 582

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产品简介

日本KETT LH-200J 涂层测厚仪膜厚计
特点：本仪器采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
LH-200J测定方法高频涡流式测定对象非磁性金属上绝缘层测定范围0～800um或0～32.0mils测定精度<50um±1um >50um±2%分辨率<1

详细介绍

日本KETT LH-200J 涂层测厚仪膜厚计

特点：本仪器采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

LH-200J测定方法高频涡流式测定对象非磁性金属上绝缘层测定范围0～800um或0～32.0mils测定精度<50um±1um >50um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封防水按键附属品铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g