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Surfix N 外置探头非铁基统计型测厚仪
特点:1.德国PHYNIX公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测有色金属涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
8.有红外可接PC及打印机
技术参数: | |
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数) |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体zui小面积 | 5mmX5mm |
基体zui小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:5mm |
基体zui小厚度 | F型:0.2mm ,N型: 50µm |
校准 | 厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据统计(*统计型) | 读数个数(zui多9999个),平均值,标准偏差,zui大值和zui小值 |
数据存储(*统计型) | zui多200个测量数值,可单独调出 |
数据值(*统计型) | 上下限可调,声音报警 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃ (可选配150℃) |
电源 | 两节1.5伏五号碱性电池 |
仪器尺寸 | 137x66x23mm |
符合标准 | DIN,ISO,ASTM,BS |