Jandel可变高度测试台(Automatic)Multiheight

公司简介：

英国Jandel公司成立于1967年，专注于四探针探头和测试仪器生产，其精准的测试结果以及精密的设计赢得国际同行的高度认可和推崇。目前各种不同形状、规格的四探针探头已成为众多国际一线四探针测试仪生产厂家的核心部件。

产品类别：

jandel可变高度测试台

jandel多位晶片测试台

jandel四探针测试仪专用圆柱形探头

jandel微定位测试台

jandel多用型测试台

主要型号：

(Automatic)Multiheight

产品介绍：

l 应用广泛，可测量薄膜、晶片以及锭

l Z轴可变高度

l Automatic Multiheight(AFPP)配有压力传感器，探针与样品接触时自动停止功能，避免超压保护样品和探针

优势特点：

l 样品：尺寸直径不超过250mm的样品（可选择直径为300mm的样品，无需额外费用）

l 样品：厚度可测量高达250mm的样品（如有要求，可测量更高的样品）

l 微动开关防止探针与样本不接触时电流流动

l 手动控制探针接触和拆卸的简单杠杆操作

l 简单设置单线连接探针支架和测量电子设备

l 安装孔可选样品台

jandel可变高度测试台主要应用：

半导体电阻率测量