简介说明：光电高低温湿热循环试验箱是光电企业*试验测试设备，他的叫法很多如：湿热试验箱、恒温恒湿试验箱、温湿度试验箱、高低温老化试验箱等等，广泛用于LED半导体、光纤、LED射灯、LED照明、LED芯片、LED灯罩、橡胶、电工、电子、电池、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是电子、电工、电器、橡胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备。

制冷系统：
1、压缩机：全封闭原装法国泰康制冷机组。
2、制冷方式：单（双）机制冷。
3、冷凝方式：强制风冷冷却。
4、除湿采用蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式。
5、电磁阀、油分离器、干燥过滤器、修理阀、冷媒流量视窗、贮液筒均采用世界原装配件。

规格型号（单位:mm）：（W×H×D）
型号:KW-TH-80       内形尺寸：400×500×400      外箱尺寸：970×1360×970
型号:KW-TH-150     内形尺寸: 500×600×500       外箱尺寸：1070×1460×1070
型号:KW-TH-225     内形尺寸：500×750×600      外箱尺寸：1070×1610×1170
型号:KW-TH-408     内形尺寸: 600×850×800        外箱尺寸：1170×1710×1280
型号:KW-TH-800     内形尺寸：1000×1000×800   外箱尺寸：1550×1850×1300
型号:KW-TH-1000   内形尺寸：1000×1000×1000  外箱尺寸：1550×1850×1500
容积：80L      150L      225L       408L      800L     1000L
温度范围： Z:0～150℃    T:-20～150℃   F:-40～150℃   S:-70～150℃
湿度范围： 标准型：20%～98%  （低湿型5%～98%需订购前说明）
温度波动度：±0.5℃   
温度均匀度：±2.0℃
湿度波动度：±2％R.H   
湿度均匀度：±2.5％R.H
升温速度：   1.0～3.0℃/min
降温速率：   0.7～1.2℃/min
电    源:    1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%

控制系统：光电高低温湿热循环试验箱选用KOWIN公司自主研发的KW-890型可程式微电脑温湿度控制器：7英寸中英文真彩触摸屏式人机界面（画面对谈式）电脑控制，USB曲线记录，数据储存装置：
优势一：大屏幕逼真彩色画面：TFT LCD（LED 背光） 7英寸TFT真彩VGA（800x480）
优势二：人机对话式触摸屏输入系统，操作简单易学，功能强大，并可于LCD画面上了解程序设定之曲线及监测过程；
优势三：PV曲线/组曲线：实时表示温、湿度PV,SV曲线,表示历史储存的曲线,表示组曲线及进行状态； 
优势四：可设定程序120组，1200段，循环次数可达999次，每段时间zui大设定99小时59分； 
优势五：提供USB通讯接口可备份/历史曲线/历史数据,使用便捷；还可选配RS485接口，RS232通信接口，可通过PC随意控制和监视。  
优势六：具有程序修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能；
优势七：画面保护器功能,程式运行时可以设定操作条件,一个段次的运行时间（530小时59分）,每段可以设定待机开关，定值zui大999999小时； 
优势八：具有多种报警功能，故障发生同时，可通过荧幕故障显示，消除故障；
优势九：把记录错误履历,提供使用者查阅,全部画面提供英语、中国语； 
优势十：BMP文件表示：通过USB下载历史曲线为BMP图片格式文件。
KW-890温湿度控制器运行画面：

执行标准：
依国标GB/T10586-2006及GB/T10592-1989设计制造。
GB/T2423.1-2001试验B：高温（部分）
GB/T2423.1-2001试验A：低温
GB/T2423.4-1993试验Db：交变湿热
GB/T2423.3-2006试验Cab:恒定湿热
GB/T2423.34-2005试验Z/AD：温湿组合或其它在设备性能范围内的温湿度试验。
美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度   
美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫   
美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫   
美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合迴圈試驗   
美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2   
美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程式3      
美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗   
美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗   
美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態   
日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:幹熱   
日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫  

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