TEBX-E变压器绕组变形测试仪

TEBX-E变压器绕组变形测试仪

TEBX-E变压器绕组变形测试仪的主要技术特色：

•  使用目前zui为流行的扫频法进行测量
•  扫频频率覆盖范围宽：10Hz~10MHz
•  测量动态范围宽：－100dB～20dB
•  不对变压器进行吊罩、拆装的情况下就可以进行测试
•  采用分体式结构，测试主机与主控计算机之间采用USB连接，即插即用
•  现场接线简单，测试速度快，大大减轻了现场的工作量
•  软件带数据库功能，方便进行数据查询及比对
•  分析软件功能*，能提供相关系数及均方差自动计算，软件、硬件指标满足国标DL/T911-2004    
•  数据格式灵活，可以导入多种类型的数据

       TEBX-E绕组变形测试仪用于测试6kV及以上电压等级电力变压器及其它特殊用途的变压器，电力变压器在运行或者运输过程中不可避免地要遭受各种故障短路电流的冲击或者物理撞击，在短路电流产生的*电动力作用下，变压器绕组可能失去稳定性，导致局部扭曲、鼓包或移位等*变形现象，这样将严重影响变压器的安全运行。按国家电力行业标准DL/T911－2004采用频率响应分析法测量变压器的绕组变形，是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性，并对检测结果进行纵向或横向比较，根据幅频响应特性的变化程度，判断变压器绕组可能发生的变形情况。

由测量部分及分析软件部分组成，测量部分是由信号生成及信号测量组成的黑匣子，分析部分由笔记本电脑完成，测量部分通过USB与笔记本电脑连接。

一、TEBX-E变压器绕组变形测试仪的主要技术指标有：   

• 测试主机与PC接口：USB接口。
• 信号源：仪器自带扫频的激励信号，信号输出Vpp为16V，信号输出阻抗为50Ω，信号输出频率范围：10Hz-10MHz。
•  两个采集通道高速同步采样通道，每通道zui高采样率为100Msps。
• 采集通道输入阻抗：1MΩ/50Ω
•  扫频测量范围：10Hz－10MHz
•  扫描间隔：小于1kHz
•  扫描方式：采用线形或者对数分布的扫频测量方式
•  扫描频率精度：信号源输出信号的频率精度优于0.01%
•  扫频测量频点：10Hz－10MHz，测量点数5000点
•  测量范围：-100dB～20dB
•  测量精度：±0.5dB（-100dB～20dB）
•  符合国家电力行业标准：DL/T911-2004
•  供电：AC220V±10%(50Hz)
•  环境温度：-15℃～+50℃
•  相对湿度：10%～90%

二、检测原理

       在较高频率的电压作用下，变压器的每个绕组均可视为一个由线性电阻、电感（互感）、电容等分布参数构成的无源线性双口网络，其内部特性可通过传递函数H(jω)描述，如图1所示。若绕组发生变形，绕组内部的分布电感、电容等参数必然改变，导致其等效网络传递函数H(jω)的零点和极点发生变化，使网络的频率响应特性发生变化。

用频率响应分析法检测变压器绕组变形，是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性，并对检测结果进行纵向或横向比较，根据幅频响应特性的差异，判断变压器可能发生的绕组变形。

图1  频率响应分析法的基本检测回路

测得的幅频响应曲线常用对数形式表示，即对电压幅值之比进行如下处理：

H（f）=20Log[V₂(f )/V₁(f )]

式中：H（f）为频率f时传递函数的模│H(jω)│；V₂(f )和V₁(f )为频率为 f 时响应端和激励端电压的峰值或有效值│V₂(jω)│和│V₁(jω)│。

三、仪器使用方便、现场接线简单。

     仪器主机采用德国Vittal原装机箱，美观耐用，所有测试配件可靠、耐用，外包装箱采用高级铝塑拉杆箱，轻便实用。

测试仪器现场接线非常简易，其现场测试示意图如下：

四、TEBX-E变压器绕组变形测试的软件特色

•   软件采用windows平台，兼容windows2000/winXP/windows vista/windows7。
•   软件带数据库功能，方便数据查询及比对。
•   可以同时加载6条曲线，各条曲线相关参数自动计算，自动诊断绕组的变形情况，给出诊断的参考结论。
•   软件管理功能*，充分考虑现场使用的需要，自动保存环境条件参数，以便作变压器绕组变形诊断时提供依据。测量数据自动存盘、具有彩色打印功能，方便用户出测试报告。
•   软件人性化特点明显，测量的各种条件多为选择项，不用在现场作很多的输入，使用人员更加的方便。
•   软件智能化程度高，在输入、输出信号连接好之后，只需要按一个键就可以完成所有的测量工作。
•   测试数据格式灵活，可以导出、导入各种测试数据。