M144986 自动抗干扰介质损耗测量仪 型号:AI6000K

自动抗干扰介质损耗测量仪 型号:AI6000K

产品简介
AI-6000K自动抗干扰介质损耗测量仪用于现场抗干扰介损测量、试验室介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器、标准电容器等。仪器测量结果由大屏幕液晶显示，仪器自带微型打印机可打印输出。
产品特点
▪ 具有正/反接线，内/外标准电容，内/外高压多种工作模式。
▪ 一体化结构，可做各种常规介损试验、高电压介损测量和CVT自激法测量。
▪ 大屏幕背光LCD显示，中文图文菜单，电流电压实时显示。
▪ 启动后自动缓速升压——测量——降压。
▪ 测试数据内容丰富，自动分辨电容、电感、电阻型试品。
▪ 具有过流、过压和接地保护，。
▪ 49/51Hz自动双变频介损测量，干扰抑制率可达100。
▪ CVT自激法测量时，C1/C2可一次接线同时测出，无须换线和外接任何配件。
▪ 具有变比测量功能，可测量CVT/电磁式PT的变比、极性和相位误差。
▪ 具有反接线低压屏蔽功能，可在母线接地情况下进行10kV不拆线反接线介损测量。
▪ 带日历时钟，本机可存储100组测量数据。
▪ 自带微型打印机可打印输出。
▪ 带RS-232标准接口，也可选配无线蓝牙通讯，可实现计算机控制和报表输出。
自动抗干扰介质损耗测量仪 型号:AI6000K

产品参数
大输出电流：200mA/10kV
外形尺寸cm(长x宽x高)：34x26x27
重量kg：22
高电压介损：支持外接
计算机接口及存储：RS232存储100组数
CVT自激法测量：不需外接设备C1/C2同时测量高压连线可拖地
CVT变比:有
反接线低压侧屏蔽：C1/C2同时测量
接触不良提示：有
介损
测量范围：不限，电容、电感、电阻三种试品自动识别
精度：±（读数×1%+0.00040）
分辨率：0.001%
电容
测量范围
内施高压：3pF~60000pF/10kV,60pF~1.2μF/0.5kV;
外施高压：3pF~1.5μF/10kV,60pF~30μF/0.5kV
分辨率：高0.001pF，4位数字
精度：±（读数×1%+1pF）
抗干扰性能：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度
输出高压
100V~10000V平滑可调输出
分辨率 1V
精度 ±（1.5%×读数+10V）
大输出电流 200mA