YP40000 大称量电子天平YP40000

大称量电子天平YP40000大称量电子天平YP40000
    大称量YP电子天平具有流畅新颖的外型，全新的设计，使称重的反应速度更快，定点更迅速。*的金属底座及机械构造，确保了天平的稳定性，增加了天平的抗干扰。交直流两用，便于携带和野外操作。
同时，本公司还可以根据客户的要求进行特殊规格 。

大称量电子天平


特点：
  *的外型设计使产品具有高稳定，背光液晶显示屏，使操作者视觉更舒适。
  内置RS232C输出接、交直流两用。

功能：
  具有多种计量单位转换、计数、百分比、校准多点选择，记忆以及动物称量功能。
  内置RS232C输出接口可以与计算机、打印机等设备连接使用。

YP系列技术参数

产品名称：数字式照度计 照度计 产品型号：TES-1330A

数字式照度计 照度计型号：TES-1330A

显示器 3 1/2位液晶显示  
测量范围 20/200/2000/20000 Lux  
(1330 also Footcandle for 1334A)  
200/2000/20000/200000 Lux (1332A)  
20000 lux-reading x 10;  
200000 lux-reading x 100  
过载显示 Hightest digit of (1) is displayed  
分辨率 0.01 Lux(1330A,1334A) & 0.1 Lux(1332A)  
准确度 ±3% rdg ± 0.5% f.s.(＜10,000 lux)  
±4% rdg ± 10dgts (＞10,000 lux)  
(以色温2856 K标准平面灯校正)  
重复测试 ±2%  
温度特性 ±0.1% /℃  
取样率 Approx. 2 times/sec.  
记录器输出 DC 2V/f.s. (满刻度) (TES-1332A)  
操作及储存温湿度 0°to 40℃ (32℉ to 104℉) ＜ 70% R.H.  
电源 one 9V battery  
光检测器尺寸 100mm(L) x 60mm(W) x 27mm(H)  
电表 尺寸 135mm(L) x 72mm(W) x 33mm(H)  
重量 250g  
附件 使用说明书,皮盒,9V电池

产品名称：连续变倍应力仪 产品型号：WYL-2D/2E

连续变倍应力仪型号：WYL-2D/2E  
特点  
1、应力测定范围 560nm（一级干涉色）  
2、全波片光程差560nm（毫微米）  
3、有立体感强的清晰而正立的图象  
4、连续变倍即只需一次调焦，就能随意设定合适的放大率  
5、可接配摄像或常规及数码照相系统（选配）  
规格  
1、全波片光程差：560nm（毫微米）  
2、目镜筒：双目，三目。双目瞳距：55-77mm.视度调节：±5屈光度°  
3、照明系统：可调上光源卤素灯15W/6V,下光源LED灯10W/9V  
4、包装规格长×宽×高（46×32×30cm）  
5、重量：毛重7.5kg,净重：6.5kg  
6、放大倍率： 
物 镜：0.7-4.5× 
目 镜：WF10× 
总放大率 ：7-45× 
视场直径mm：31.2-5.1 
工作距离：93

产品名称：双电测数字式四探针测试仪 产品型号： ST2263

双电测数字式四探针测试仪型号： ST2263 
概述  
     ST2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。   
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。      
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！  
     
     探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。  
     测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。      
          详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入  
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。  
     仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。  
三、基本技术参数      
3.1  测量范围      
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    电  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)  
    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    测量方位: 轴向、径向均可  
3.3.  4-1/2 位数字电压表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)误差：±0.1%读数±2 字  
3.4  数控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)误差：±0.1%读数±2 字  
3.5  四探针探头（选配其一或加配全部）  
   (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调  
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调  
3.6 电源      
   输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）