JMFD70×30 实验磨粉机

 实验磨粉机  型号：JMFD70×30

     JMFD70×30型实验磨粉机*偏心套轧距调节机构和透明磨辊端面盖板、透明圆筛罩，是一种可调轧距、研磨和筛理过程全程可见的精密，磨粉过程与大型工业制粉过程类似，水分损失少，一般仅为0.2%-0.4%，广泛用于实验室对小麦样品进行实验制粉，进行面团流变学特性、面制品制作实验等分析，从而评价小麦粉品质。
　 
·技术特征 
偏心套轧距调节机构，各对磨辊间隙均可调整，延长磨辊使用周期，确保研磨效果长期稳定*； 
磨辊端面为透明盖板，磨粉作业过程中，磨辊和麦渣均清晰可见； 
圆筒筛置于透明的密封罩中，筛理过程清晰可见； 
双曲柄机构驱动园筒筛做变速转动，筛理效果好； 
高效四辊连续三道研磨结构，研磨过程水分损失小，样品回收率高； 
全合金磨辊经淬火处理，硬度高，耐磨，使用寿命长； 
磨辊更换方便快捷； 
高精度，易操作； 

● 工作原理
　　JMFD70×30型属于一种精密实验室磨粉机，是实验室小麦制粉的设备，含高效圆筛筛理系统，备出的面粉在出粉率、灰份、面粉品质、烘焙性能方面与磨粉间大型机组接近，用于对小麦样品进行实验制粉，做面团流变学特性等品质分析或烘焙实验，评价小麦粉品质。 
　　本磨粉机*偏心套轧距调节机构，可通过适当旋转偏心套，对各对磨辊间隙进行调整，具有调节方便、延长磨辊使用周期之优点，在磨辊的整个使用周期内，通过调整轧距，使磨辊间隙基本维持在合理状态，具有理想而稳定*的研磨效果。 
　　本磨粉机的磨辊端具有透明盖板，由双曲柄机构驱动圆筛做变速转动，具有良好的筛理效果；在磨粉作业时，研磨和筛理过程均清晰可见，具有理想的可视效果。 
JMFD70×30型的粉路，采用交错排列的四个磨辊形成三道研磨结构，其中*道皮磨的第二个磨辊同时又是第二道皮磨的*个磨辊，第二道皮磨的第二个磨辊是zui后一道心磨的*个磨辊，在磨辊下方有圆筒状筛子。 
　　样品从料斗通过可调节的进料门，随喂料辊的转动进入*道皮磨，然后不经筛理，直接进入第二道皮磨然后直接进入心磨，zui后混合麦渣落入圆筒筛（筛绢规格6XX）。圆筒筛可自动地做加速和减速转动动，具有高效的筛理效果，即使连续操作也不会堵塞筛绢。过筛后，面粉和麸皮分别落入面粉仓和麸皮仓中。

产品名称：在线浊度计 在线浊度仪 产品型号：LC73-TUR

在线浊度计 在线浊度仪 型号：LC73-TUR

LC73-TUR型浊度仪具有数据记录功能，可替代无纸记录仪，记录间隔时间可在10分钟至24小时内设置，记录数值可翻查，根据需要输入翻查页码，查询不同时段下记录的数值。 
>一、主要特点 
◆友好的用户界面设计 
       LC73-TUR型浊度仪使用320×240大点阵液晶显示（目前行业内分辨率的点阵液晶）， 全中文操作菜单，即使在没有说明书的情况下，依然可以轻松自然地进行仪表的操作使用。仪表显示界面可同时显示当前的浊度值、报警状态、清洗状况、电流输出、通讯状态等诸多信息。 
◆检测数值记录功能 
◆操作密码保护功能 
       LC73-TUR型浊度仪进行任何设置或校准，都需输入密码，可有效防止仪器使用人员的误操作。 
◆抗干扰的电流输出 
       同类产品中几乎都存在电流输出不稳的问题，尤其是在有变频器或PLC的环境下使用，电流输出始终在上下波动，无法稳定。我公司的LC73-TUR型仪表采用新型电路，以及高速光耦隔离技术，*解决电流输出不稳定的问题。 
◆恢复出厂设置功能 
       当用户操作后无法确认仪表设置的数据或校准数据是否正确时，可在相应的操作界面进行恢复出厂设置功能操作，使仪表回到出厂设置状态（此功能仅我们仪表有）。 
◆多种特殊功能设置 
      LC73-TUR型浊度控制器具有多种特色功能设置，具有如在线数值修正、恢复出厂设置、四组继电器控制等诸多特殊功能设置。 
◆按键操作声光回馈 
       LC73-TUR型浊度控制器除了具有老款中的按键音效回馈外，还增加了蓝色高亮LED光效回馈；在一些噪声较大的工业场合，其优点更为突出。 
◆模拟量输出范围可编程 
      LC73-TUR型浊度控制器标准配备一组4~20mA输出，可选配两组4~20mA输出；两组电流输出均可编程，设置输出范围，出厂标准设置为零至满量程，可认为的在满量程内任意设置输出范围；且两组输出均可设置为逆向输出（20.00~4.00mA）。 
◆两个独立继电器迟滞量 
      LC73-TUR型浊度控制器设计有两组独立的继电器迟滞量，解决了以往一个迟滞量在不同控制时的矛盾，高低点有不同的迟滞量，分别是Hd和Ld。 
◆可选配四组继电器输出 
      LC73-TUR型浊度控制器多可选配四组继电器控制，多可控制6台加药设备。 
◆开机后自动检测数据 
       当仪表开机后将自动检测存储的各个数据是否在正常范围内，若不在正常范围，将自动恢复到出厂设置状态，保证仪表在使用时不会出错。 

技术参数： 
测量范围0.000～0.999NTU、0.000～9.999NTU、0.00～99.99、0.0～999.9NTU（可选） 
分辨率0.001NTU、0.01NTU、0.1NTU 
显示方式320×240大点阵液晶背光显示（目前行业内分辨率的点阵） 
发光光源激光二管（LED） – 10年寿命 
控制范围两组继电器全量程内任意数值 
自动清洗时间1秒～99分59秒（自行设定） 
清洗间隔时间1～720分（自行设定） 
信号输出4～20mA（可逆） 
通讯接口双向RS-485，Modbus（选配） 
大水压内置压力调节阀，大压力为1380KPa 
样品流速100毫升/分 ~ 1升/分 
样品温度+1 ~ +50℃ 
工作电压AC220V±10%    50/60Hz 
外形尺寸144×144×145mm 
安装方式嵌入式安装 
使用环境①环境温度：-5～55℃ 
②空气相对湿度：≤90% 
③除地球磁场外周围无强磁场干扰 

产品名称： 四探针测试仪/ 四探针电阻率检测仪 产品型号：BT-300H

 四探针测试仪/ 四探针电阻率检测仪型号：BT-300H

四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。 
仪器主要技术指标： 
1．   范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm， 
    分辩率为10-6Ω—cm 
         方块电阻10-3—103Ω /电阻10-6—105Ω 
2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm 
3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架） 
4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V  
  (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字） 
              2 mV档以上±（0.3%读数+2字） 
  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω 
              20mV档以上>108Ω 
5．  恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给 
   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档 
   （3）电流误差：±（0.3%读数+2字） 
6．四探针测试探头  （1）探头间距：1mm   (2)探针机械游率：±0.3%  
                   (3) 探针：Φ0.5mm