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起订量：
4336r 大面积平板探测器
- 型号
- 4336r
碘化铯、非晶硒、非晶硅DR平板探测器，x射线入射到闪烁发光晶体层时，x射线光子能量转化为可见光子发射，可见光子激发光电二级管产生电流，这电流就在光电二级管自身的电容积分形成储存电荷，每个像素的储存电荷量和与之对应范围内的入射，x射线光子能量与数量成正比，速度成像、具有影像成像质量高，超薄的探测板、图像清晰等特点，DR平板探测器是目前x射线x光影像成像设备中，Z清晰的影像成像设备。
应用领域、DR平板探测器被广泛应用于：医用工业、x射线无损检测成像，工业摄影、造影等行业。
详细信息
大面积平板探测器
一、产品规格 |
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用途 | 普通X线摄影 | 方法 | 平板探测器：闪烁体和非晶硅(a-Si) |
传感器 | (大面积新型MIS传感器和TFT) | 闪烁体 | GOS(Gd2O2S:Tb) |
像素间距 | 160×160微米 | 有效像素 | 1,464×1,776像素(260万像素) |
图像尺寸 | 43×36cm (14×17 in.) | A/D | 14位 |
预览时间 | X光曝光后约3-5秒 | 接口 | DICOM 3.0,以太网10/100 Base TX |
DICOM * | 兼容DICOM3.0打印管理类(SCU),存储服务类(SCU)和其他 | 电压 | 100-240V(50/60Hz) |
能耗 | 170VA | 操作环境 | 传感器单元:5-35℃(41-95°F),30-75% RH(无结露) |
参数 | FDA510(k),UL60601-1,EN60601-1,CE0197 | 尺寸 | 传感器单元(W×L×T):344×380×22.5mm (14×15×0.9 in.) |
重量 | 传感器单元：2.7 kg (5.9 lb.) | 标准配件 | 传感器单元、电源盒、遥控开关 |
二、检测内容 
1、检测开关、连接线、插头等电子元件内部结构（位置是否偏移、变形、脱焊；是否断裂等现象）；
2、检测皮鞋、皮包是否有异物（鞋底、鞋面、包内及包表面非位置有铁钉、针脱落在内）；
3、塑料件、橡胶件、注塑件内部是否有气孔气泡；
4、铝铸件或其他合金铸件内部是否有砂孔；
气孔检测 鱼检测效果图 芯片内部结构检测
还可用于：各类原器件等,可透视各类常规物体，如透视陶瓷制品(陶瓷砖、陶瓷杯、陶瓷瓷器检测等、微型透视仪可穿透竹木制品,木盒、木板、木制工艺品内部等,透视薄金属,薄铜管内部检测、
