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TAS7500 IM

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五铃光学成立于2003年6月,本公司除了生产,制造及销售投影机、平面显示器及其他光电领域用玻璃模造非球面透镜、玻璃模造匀光数组光学镜片及紫 / 红外线吸收式滤片等光学组件外, 致力于180~2500nm 各波段光谱、影像及高光谱成像的模块及系统的设计研发、生产制造及国内外销售。为客户提供一整套的高光谱及多光谱解决方案;目前公司的光谱成像系统有用在有人机及飞艇上的高光谱成像系统,无人机轻巧型的多光谱及高光谱成像系统,还开发了显微光谱成像系统;今年公司的亮点产品是马赛克式的多光谱成像芯片,及轻巧便携的多光谱及高光谱相机;该产品是将高光谱从实验室走向应用的一大突破。

详细信息

    TAS7500系列

    TAS7500系列紧凑多用途的太赫兹光谱成像系统,它利用电磁波谱太赫兹区域(0.1-10 THz)独特的特性,此系统无需特设的分析环境即可进行药物、化学品和通信材料等的无损检测。速度快和易操作是爱德万测试太赫兹分析系统的特点。除了工业应用,TAS7500系列也是相关研究领域的选择。利用爱德万测试的高精度检测技术,可获得的采样性能。


    应用实例

    Application Example img_tas7500im_0001 img_tas7500sp_0001 img_tas7500sl_0001 img_tas7500su_0001
    TAS7500IM TAS7500SP TAS7500SL TAS7500SU
    涂层厚度测量 img_icon_check - - -
    药片测量 img_icon_check - - -
    药品测量 - img_icon_check - img_icon_check
    太赫兹通信材料测量 - - img_icon_check -

    TAS7500系列主要特性

    • 业界的扫描功能*
    • 紧凑的台式机外形
    • 宽带测量能力覆盖各种光谱分析应用
    • 模块支持液体、固体和粉末形式的样品
    • 样品内部结构的非侵入性成像分析(厚度和密度)
    • 外部空气干燥单元消除水分干扰
    • 光谱成像:覆盖多应用
    • 样品内部结构的非侵入性成像分析
    • 光谱成像:覆盖多种应用
    • 成像分析:样品内部结构非侵入式测量

    * TAS7500SP/SU/SL: 8ms/扫描, TAS7500IM: <15 分钟="" (32="" x="" 32="" 点,="" 积分32次)="">

    系统配置

    img_tas7500_0002_en

    Thermal Control Accessory (Option for Transmission Accessory)

    • This accessory enables analysis of very high / very low temperature samples using the transmission accessory.
    • Two models are available, with operating ranges of -10 to +80°C (TAS1020) and room temperature to +300°C (TAS1030).
    • Dry air purge function prevents condensation at low temperatures.

    img_tas7500_0015_en

    特性

    • 样品内部结构的无损成像分析(厚度和密度)
    • 内部转台实现高达10个样品的自动分析

    规格

    主要测量方法 飞行时间成像分析
    目标材料 药片
    样品尺寸 圆形/椭圆形/长圆形片:
    直径5mm-20mm,厚度2.5-8.5mm,重量<2克>
    分析/显示功能 拼接显示(横截面、厚度、密度、界面状态、FCSI*)
    扫描频率 <15 分钟.="" (32x32="" 点,="" 32次扫描)="">
    厚度测量范围 空间分辨率: <>
    最小扫描分辨率: 0.05mm
    厚度测量范围: >30um

    *: FCSI = Film Coating Strength Index

    药片涂层厚度

    TAS7500IM系统从样品反射的太赫兹波,可以无损地分析药片的表面包衣厚度、药片内部结构和内层界面。

    img_tas7500_0009_en

    干粉压片的内部结构分析

    TAS75000系列还可以对干粉压片进行非破坏性分析。

    img_tas7500_0010_en

    涂层密度和裂纹的相关性

    比较两种相同形式的片剂的表面反射率,可以区分易于开裂的涂层(A)和耐裂纹涂层(B)。

    img_tas7500_0011_en

    多层药片密度无损分析

    涂层厚度和片剂密度等物理性质可以呈现。通过太赫兹波脉冲的反射强度和滞后时间,可以得到涂层密度、厚度和界面粘附性

    img_tas7500_0012_en

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