$item.Name

首页>仪器仪表>其它仪器仪表>其它仪器仪表产品

Park NX10科研级原子力显微镜

型号

该企业相似产品

上海艾尧科学仪器有限公司,是一家专业的高科技仪器与设备供应商。我们通过引进仪器设备,助力中国科技事业的发展。我们的客户遍布各大高校、科研所、纳米材料领域、半导体行业、汽车行业、机械制造、石油化工等领域。 目前,上海艾尧科学仪器有限公司是韩国Park Systems公司、俄罗斯Ostec公司、美国NANOVEA公司、瑞士Lin-Tech公司、法国Normalab公司在中国的代理商,负责相关仪器设备在中国的销售、技术支持以及售后服务。产品包括:原子力显微镜、微纳米压痕仪、微纳米划痕仪、显微拉曼光谱仪、显微红外光谱仪、油品分析仪器、元素分析仪等诸多产品。公司在纳米材料表征、显微分析、三维形貌、油品分析领域可提供完整的解决方案。 我司的服务宗旨为:专业成就品质,服务创造价值,诚信铸就品牌。 我们真诚期待与您的合作共赢!

详细信息

The quickest path to innovative research

Park NX10为您带来纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有 。无论是样品设定、全扫描成像还是测量与分析,Park NX10都能在每一步为您节约时间,让您可以更加专注于创新研究工作。


Better accuracy means 

better data

Park NX10为您带来纳米级分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。它是一个真正非接触式原子力显微镜,在延长探针使用寿命的同时,还能够良好地保护您的样品不受损坏。此外,柔性解耦XY轴和Z轴扫描器可带来的精确度和分辨率。

Better accuracy means 

better productivity

无论是样品设定、全扫描成像还是测量与分析,Park NX10都能在每一步为您节约时间。用户友好型界面、简易的激光准直系统、自动探针接近以及分析软件都能让您更快的获得研究结果。

Better accuracy means 

better research

当您有了更多充足的时间和更精确的数据,您可以更加专注于创新研究工作。即便是复杂的项目,Park NX10也能够凭借着众多的测量模式和可定制化设计满足您的所有需求。


2技术信息

Accurate AFM Solutions for General Research

Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector


Low Noise Z Detector of Park NX10 AFM

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode

·NX平台的关键技术改进和设计特点

·噪声水平为业界,竞品无法匹敌

·默认的形貌信号


Z轴探测器是全新的NX系列原子力显微镜的核心技术改进之一。它是Park的新型应变传感器。凭借着0.2埃的超低噪声,它一跃成为行业内噪声的Z轴探测器。超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号。通过对比全新的NX系列原子力显微镜与我们前几代的原子力显微镜,我们可以轻易地看到其中的差异。如果Z轴探测器的噪声过高,用户是无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶。Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号,其噪声水平与Z轴电压形貌相同。

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode

The Best User Convenience by Design

Easy Tip and Sample Exchange

独特的镜头设计让您能够轻易地从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂,您无需进行繁杂的激光准直工作。


Lightning Fast Automatic Tip Approach

得益于的探针样品接近功能,用户无需进行干预操作,且悬臂装载后仅需10秒便可进行扫描。通过监控悬臂对于接近表面的反应,Park NX10能够在悬臂装载后10秒内,让探针自动快速接近样品。正是凭借着高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理,NX系列可让探针快速接近样品表面,且无需用户干预。


Easy, Intuitive Laser Beam Alignment

 凭借着我们的预准直悬臂架,悬臂在装载时激光便已完成聚焦。并且,自上而下的同轴视角(行业无二)让您可以轻松地找到激光光点。由于激光垂直照射在悬臂上,您可以凭直觉旋动两个定位旋钮,将激光光点随着X轴和Y轴移动。这样,您可以在激光准直界面中,轻易地找到激光并将其定位在PSPD上。此时,您只需要稍作调整实现信号的,便可开始获取数据。

3原子力显微镜模式

Adaptable to any project

Electrical and Other Sample Characterization Modes

得益于众多的扫描模式和模块化设计,NX系列可轻易满足任何扫描探针显微项目的需求。

相关技术文章

同类产品推荐

产品参数

规格类型

企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
温馨提示

该企业已关闭在线交流功能

请拨打电话联系

提示

请选择您要拨打的电话: