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数字化薄膜正电子湮没寿命谱仪DPLS-4000 F
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详细信息
产品简介：
DPLS-4000 F是DPLS-4000的升级版本，使用的反符合设计与机器学习数据处理技术，可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命，对于制备困难、物质量少的纳米材料、薄膜材料是一种理想的无损表征手段。
DPLS-4000 F同样支持在非薄膜模式下工作，此时功能与基本型号DPLS-4000相似。
产品特色：
薄膜测量：创造性的使用反符合设计，实现了微米级厚度薄膜的直接测试，通过机器学习算法对数据进行优化，提高实验精度。
一机集成：DPLS-4000 F使用模块化设计，将所有设备集成在机箱中，设备占地面积小，安装移动快捷，可以在各种场景中使用。
一键测量：利用AI算法实现自动设置，省去繁复的调试过程，消除使用门槛，真正让用户开机即用、一键测量。
技术指标：
时间分辨率≤230ps（使用Na-22 放射源测量正电子湮没寿命谱）；
可测薄膜最小厚度≤2μm，可测薄膜厚度≥100μm；
能量分辨率≤5.0%@1.275MeV；
时间采样率≥5G/SPS；
幅度分辨率≥12位；
典型阳极脉冲上升时间≤0.8ns；
典型渡越时间分散≤0.37ns；
闪烁体探测器溴化镧晶体尺寸≥Φ25mm x L15mm；
采用 Na-22 放射源，活度≥20µCi。
具有示波器功能；
能窗自动识别功能；
探测器集成分压电路、磁屏蔽；
具有一键设置功能， 自动设置所有测量参数，用户无需调试直接使用；
具有自动校准功能，在测量过程中始终保持参数的稳定。
