无接触少子寿命扫描仪：MWR-2S-3

                 
 

     合能阳光无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S-3)功能*，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm，是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业的测量仪器。
 
 
 
 

 产品特点：
 ■ 无接触和无损伤测量
 ■ 自动测量，具有传送系统，可进行连续测量
 ■ 快速测量，测试扫描速度达到2000mm/min
 ■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
 ■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等  
 ■ 性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本
 
 推荐工作条件：
 ■ 温度：18-26℃
 ■ 湿度：10%~80%
 ■ 大气压：750±30毫米汞柱
 
 
 
 

 技术指标：
 ■ 少子寿命测试范围:0.5μs-300μs
 ■ 测试扫描速度:2000mm/min
 ■ 测试尺寸:215mm*215mm*400mm
 ■ 电阻率范围：
 P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范围之外可测量，但将有一定测试偏差）
 N型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范围之外可测量，但将有一定测试偏差）
 ■ 激光波长：980±30nm,测试功率范围：50-500mw
 ■ 硅棒硅块扫描间距：≥1mm
 ■ 仪器测试精度：±3.5％，信号处理偏差≤2％
 ■ 工作频率：10GHz±0.5
 ■ 微波测试单元功率：0.01W±10%
 ■ 电源：～220V 50Hz 功耗＜200W
 ■ 主机尺寸：365mm * 645mm *565mm
 ■ 主机重量：30KG
 
 典型用户：
 英利新能源、晶晶光电、上海清华、蠡县英利、江西晶科、申和热磁、海润光伏、江苏兆晶、成都蓉威、安徽天翊、桂林尚鼎、山东泰岱、扬州金威、辉煌能源