同时满足
ROHS、卤素、镀层、合金等材料分析
起订量:
ROHS、卤素、镀层、合金等材料分析
沿用成熟的X荧光技术
集成FP法、Alpha系数法、经验系数法
可生成各种人性化的检测报告
软硬结合的设计
一键式操作设计
智能软件自动设定参数和滤光片
分析样品
的操作系统
超载保护
无需耗材
| 探测器 | Amptek Si-PIN探测器,高速脉冲分析系统 |
| 高压电源 | Spellman 50w(50kv/MA) |
| X射线管 | 50w侧窗铍窗型X射线管 |
| 能量分辨率 | 149ev |
| 元素分析范围 | 硫(S)-铀(U) |
| 测量时间 | 60-300S |
| 测量含量范围 | 1ppm-99.9% |
| 交流220v供电设备 | 1KVA交流净化稳压电源 |
| 工作温度 | 10-30°C |
| 测量条件 | 大气环境 |
电子电器、五金冲压、包装塑料等各类产品的ROHS、无卤检测。