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HAST非饱和加速寿命试验箱--产品用途
用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定
HAST非饱和加速寿命试验箱--结构特点GB/T 2423.40-2013环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
HAST加速寿命试验箱--规格与技术参数
型号(CM) | ETE-HAST | ETE-HAST | ETE-HAST | ETE-HAST | |
工作室尺寸(Φ*D)mm | Φ300*450 | Φ400*550 | Φ500*650 | Φ750*900 | |
功率 | 3.5(KW) | 4.6(KW) | 5.5(KW) | 8.5KW | |
性能 | 温度范围 | 105℃ ~ 132℃ | |||
温度波动 | ≤±0.5℃ | ||||
温度均匀度 | ≤±2.0℃(恒定时) | ||||
温湿度压力范围 | 75%RH ~ 99%RH
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压力范围 | A:0 ~ 0.2MPa B:0 ~ 0.3MPa C:0 ~ 0.4MPa | ||||
湿度均匀度 | ≤±3.0%RH(恒定时) | ||||
样品区承重 | 20kg | 20kg | 20kg | 20kg | |