WEK-MRIP WEK-MRIP MRI质控模体,WEK-MRIP磁共振质控模体

WEK-MRIP一款用于磁共振设备综合性能评估和日常质量检查的检测模体。通过高分子材料树脂、特氟龙、丙烯、聚乙烯及空气的严密排列组合，使通过磁共振设备时，产生的共振强度、偏差、衰减、及噪声变化,并在轴状面，冠状面，矢状面生成图像,用于校验检测磁共振设备。
WEK-MRIP模体的圆柱外壳由丙烯酸材质构成，外径为 20cm, 内径为19cm，顶端圆板可拆卸。内部镶嵌边长为 10cm 的测试立方体。测试立方体由 6mm 厚的聚碳酸酯塑料制成。立方体内包含切片厚度斜面、感光测定小瓶、 高分辨率测试板和低对比度测试圆盘。

模体构成组件

切片厚度斜面：

切片厚度斜面安装在测试立方体的外部。斜面厚2mm，宽10mm。其放置位置相对于模体坐标轴，呈14°角，对切片宽度的测量提供4 倍的放大系数。两两相对的斜面相交于测试立方板的中心位置，用于定位校准。

空间分辨率测试卡：

空间分辨率测试卡一共有三组，可对冠状面，轴状面，矢状面三个面分别进行分辨率测试。 每组都是由2mm厚的丙烯酸板构成，由测试立方体内的通道支撑。通过使用一系列矩形槽来完成的，测试范围为 2、2.5、2.7、3、4、5、6、7、8、9、10、11 其中一组测试卡上有2cm、4cm和8cm 正方形间隔的3mm孔，用于测试几何畸变

感光测定瓶：

光测定样品储存在四个外径为 1.9cm，内径为1.6cm 的圆柱形小瓶中。小瓶可以通过立方体外部0.6cm的端口装满各种溶液，用于T1和T2 测量。

立方体支撑盘：

两块立方体支撑盘将立方体固定在圆柱体内，可以方便地安装和拆卸，在确定立方体位置的同时，支撑盘还为空间线性测量提供信息。测试立方体支撑盘上有3 毫米的孔，以8厘米、10厘米和12 厘米的正方形为中心，以模体的轴为中心，在较大的正方形的拐角处有4 组2 厘米的正方形。这种设计允许测量整体几何畸变和局部畸变。

低对比度：

低对比度测试模块是由安装在测试立方体底座上的丙烯酸圆盘构成。四组三个圆形凹槽的深度分别为0.5mm，0.75mm，1.0mm 和2.0mm，直径分别为4mm，6mm 和10mm。（由轴中心到外）

外壳：

外壳组件包括外壳和立方体支撑盘（用于支撑10cm的立方体测试模块）。外壳顶端圆板可拆卸，圆盘上加有测试伪影测试模块。在移除测试立方体和支撑盘的情况下，可以使用外壳进行全面的空间均匀性测量。外壳易于清洁，允许使用凝胶和液体溶液，多个端口允许在排水时不受限制地流动。

WEK-MRIP MRI质控模体,WEK-MRIP磁共振质控模体成像图：