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在超分辨成像、半导体检测等领域,XY轴的高速扫描与大孔径兼容是核心需求。PIEZOCONCEPT LFHS2 2轴纳米定位平台以“大孔径设计、高速动态响应、高同步精度”为核心特点,解决了传统2轴平台孔径小、扫描速度慢的行业痛点,成为科研与工业检测的优选设备。
该平台采用XY轴正交设计,行程覆盖30μm~75μm多档位,分辨率低至0.03nm,重复定位精度优于0.15nm。主体采用7075铝合金材质,刚度达4N/μm(X轴)、3N/μm(Y轴),水平负载1kg,垂直负载0.5kg。核心亮点为66mm×66mm大孔径设计,可容纳大型样品或光学组件,共振频率达3000Hz(X轴)、2000Hz(Y轴),扫描速度可达500Hz,阶跃响应时间短于2ms。
| 型号 | XY轴行程 | 分辨率 | 共振频率(X/Y) | 适用场景 |
|---|---|---|---|---|
| LFHS2.30 | 30μm×30μm | 0.03nm | 3000Hz/2000Hz | 高精度快速扫描 |
| LFHS2.50 | 50μm×50μm | 0.05nm | 3000Hz/2000Hz | 半导体芯片检测 |
| LFHS2.75 | 75μm×75μm | 0.075nm | 3000Hz/2000Hz | 大范围超分辨成像 |
| 通用参数 | 孔径66mm×66mm | 线性度0.02% | 负载1kg(水平) | 多场景兼容 |
在超分辨显微镜(如STED、SIM)应用中,LFHS2.30型号凭借30μm行程与500Hz扫描速度,可快速完成样品XY轴扫描,大孔径设计兼容高倍率物镜,0.03nm分辨率确保成像细节清晰;在半导体晶圆检测领域,LFHS2.50型号的50μm行程可满足晶圆局部区域的缺陷检测,1kg负载能力可承载检测探头与样品夹具;在光镊阵列应用中,该平台可实现多微粒的XY轴同步移动,高速响应与高同步精度确保微粒捕获过程稳定,无相对位移。
北京汉达森机械技术有限公司,田永福。
PIEZOCONCEPT LFHS2 2轴纳米定位平台的核心优势在于“大孔径+高速”的组合,66mm×66mm孔径解决了传统平台遮挡光路或样品的问题,适配各类大型样品容器与光学组件。闭环PI反馈控制可动态补偿温度变化与蠕变,硅高分辨率传感器确保XY轴同步精度,线性度误差低于0.02%。安装过程便捷,底部配备M3沉头孔与M2.5螺纹孔,电缆出口位置合理,便于集成到复杂系统中。
对于设备采购经理,该平台的多行程版本可满足不同检测需求,大孔径与高速特性提升设备适用范围,降低重复采购成本;维修工程师可通过清晰的轴标识与标准化接口快速排查故障,平台结构坚固,故障率低,配合厂家技术支持,确保设备长期稳定运行,为科研与生产进度提供保障。

| 行程 | 10μm-100μm |
| 共振频率 | 1500Hz-7000Hz |
| 刚度 | 1.1-5.2N/μm |
| 电缆长度 | 1.5m |
| 连接器类型 | DB-9型标准化接口,兼容性强 |
| 输出电压范围 | 10V ~ +150V |
| 输出电流 | 150mA |
| 模拟接口输入 | 5.0V |
| 反馈控制方式 | 闭环比例-积分(PI)控制 |