2AP-CJ 提篮式冷热冲击试验箱

提篮式冷热冲击试验箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验。

技术参数：

标准冲击箱内箱尺寸大小可选择:

容积27升对应的:宽30x高30x深30cm;

容积50升对应的:宽36x高35x深40cm;

容积80升对应的:宽50x高40x深40cm；

容积100升对应的:宽60x高40x深40cm；

容积150升对应的:宽60x高50x深50cm；

容积250升对应的:宽70x高60x深60cm；

温度范围：低温（A：-40；B：-55；D：-65）~高温+150℃

高温发热区高温度：+60℃~+200℃

低温制冷区低温度：-10℃~-75℃;

升温时间(高温发热区) ：RT~200℃约需35min

降温时间(低温制冷区) ：RT~-70℃约需85min

温度恢复时间/转换时间：≤5min内 / ≤10sec内

温度控制精度/分布精度：±0.5℃ / ±2.0℃

内壁材料：内板材质为SUS304不锈钢

箱体保温材料：硬质聚氨酯泡沫

电气控制系统

控制器型号：7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器全触摸屏控制器，触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求.

显示器：LCD液晶显示荧屏

运行方式：程序方式

设定方式：全中文液晶显示（中英文可切换）LCD触摸式面板(耐100.000次画线试验)

程序容量：多120 组, 每个程序分三区,三区3个段. 每一个命令可达999次; 程序段时间设定0～999Hour59Min。

显示分辨率：温度：0.1℃；时间：0.1min

输入：热电偶

储存装置：USB及R232通讯界面

控制方式：抗积分饱和PID，模糊算法BTC平衡调温控制方式

曲线记录功能：程序执行时可实时显示图形曲线

附属功能：具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能，具有日期,时间调整，预约启动，关机功及画面锁定（LOCK）功能。

提篮式冷热冲击试验箱应用领域

‌电子电器零组件‌：用于测试电子元器件在高低温温度下的性能和稳定性。

‌自动化零部件‌：确保自动化设备在温度变化中的可靠性和耐久性。

‌通讯组件‌：测试通讯设备在温度变化中的性能和稳定性。

‌汽车配件‌：评估汽车零部件在高低温温度下的耐久性和可靠性。

‌金属、化学材料、塑胶‌：测试这些材料在温度变化中的物理和化学性质变化。