3AP-CJ 可程式冷热冲击试验箱

可程式冷热冲击试验箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验。

技术参数：

内腔尺寸：50升:36×35×40；80升：50×40×40；100升：60×40×40；150升：60×50×50 ；250升：70×60×60；480升：60×80×70 

外机尺寸：50升:156×175×144；80升:170×180×144；100升：180×180×144；150升:180×190×154；250升:190×200×164； 480升：202×225×215

循环冲击温度范围可选：低温（A：-40℃~+150℃；B：-55~℃+150℃；C：-65~℃+150℃）温度循环冲击恢复时间： 3~5min内；温度循环冲击移动时间： ≤10sec内。

温度控制精度：±0.5℃；分布精度 ±2.0℃

高温储温区高温度：+60℃~+200℃

低温储温区低温度：-10℃~-75℃;

升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min；降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min

加热器: 鳍片式散热管镍铬合金U型加热器，自动演算高精确度PID+SSR控制（演算周期：1～4S可设），使其热损耗量与加热量相当，故比传统ON/OFF控制省电约30%。

控制方式与特色︰利用高温及低温蓄热蓄冷储存槽，依动作需要打开DAPER，达到快速冲击循环效果；平衡调温控制系统(BTC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定使用。

可程式冷热冲击试验箱操作步骤：

‌准备阶段‌：确保实验室电源稳定，检查设备电线是否破损，设备应放置在平整地面上，远离热源和水源。

‌开启设备‌：打开电源开关并等待设备预热，使箱体内部温湿度达到预设值。

‌放置样品‌：将样品放置在样品架上，与箱壁保持一定距离确保空气流通。

‌设定温度‌：根据实验需求在控制面板上设定高温、低温及温度变化时间。

‌开始实验‌：按下开始按钮后密切监控设备运行状态。

‌实验后处理‌：关闭设备后取出样品，注意佩戴防护手套避免烫伤或冻伤。

‌清理设备‌：每次使用后清理内部灰尘和杂物，定期检查线路和部件完好性。