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TPP-01,Short Test Pin Probe

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ACCESSIBILITY PROBES 试验探针
FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS
 Model TPP-01: Short Test Pin Probe  试验短销

Used to test accessibility through enclosure openings per IEC, EN, UL and CSA Standards. Body is Delrin, tip is stainless steel.

NOTE: Don’t ever purchase an all plastic version - the tip is too narrow to maintain tip rigidity!

美国.ED&D产品服务于:IBM ,美国航空暨太空总署,英代尔,苹果, NCR ,索尼公司,太阳,飞利浦公司,思科, AT&T , Compaq , JVC , Hewlett-Packard ,摩托罗拉, Mattel ,戴尔,3 Com 等公司;专为UL , CSA , ETL , TUV,Demko等试验室提供检测产品.

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