BeamMap2，多平面狭缝扫描光束分析仪

型号

BeamMap2

BeamMap2-CM

波长范围

硅探测器: 190 至 1150 nm

InGaAs探测器: 650 至 1800 nm

硅 + InGaAs 探测器: 190 至 1800 nm

硅 + InGaAs (拓展) 探测器: 190 至 2300 或 2500 nm

可扫描的光束直径

硅探测器: 5 µm 至 4 mm, 刀锋模式下可达2 µm*

InGaAs探测器: 10 µm 至 3 mm, 刀锋模式下可达2 µm*

InGaAs (拓展) 探测器: 10 µm 至 2 mm, 刀锋模式下可达2 µm*

平面空间

4XY 模式:

100 µm: -100, 0, +100, +400 µm

250 µm: -250, 0, +250, +1000 µm

500 µm: -500, 0, +500, +2000 µm

750 µm: -750, 0, +750, +3000 µm

CM4 模式：

5 mm: -5, 0, +5, +20 mm

平面空间

3XYKE 模式:

50 µm: -50, 0, +50, 0 µm

100 µm: -100, 0, +100, 0 µm

CM3 模式：

10 mm: -10, 0, +10, 0 mm

束腰直径测量

二次矩 (4s) 直径 ISO 11146; 拟合高斯函数和TopHat函数

1/e² (13.5%) 宽度

用户可选的峰值%

刀锋模式下，用于测量很小的光束

束腰位置测量

± 20 µm在 X, Y 和 Z 平面上

可测量光源

连续/脉冲激光器, F µm = [500/(PRR in kHz)]

分辨率精度

0.1 µm 或 0.05%，在扫描范围内

± < 2% ± = 0.5 µm

M² 测量

1 至 > 20, ± 5%

发散/准直，指向

1 mrad

功率和辐照度

1 W 总功率，0.5 mW/µm²

增益范围

1,000:1 Switched 4,096:1 ADC范围

显示图形

X-Y-Z 位置和轮廓，缩放 x1 到 x16

更新速率

~5 Hz

通过/失败显示

屏幕上可选择的通过/失败颜色。 QC和生产的理想选择。

多次运行取均值

用户可选择的运行平均值（1 到 8 个样本）

数据统计

最小值，值，平均值，标准差

长时间记录数据

XY 轮廓和质心

光束漂移显示和记录

PC系统要求

Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port