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两槽式HAST高压加速老化箱
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详细信息
产品详情
威邦两槽式HAST高压加速老化箱：英文名（2-Zone HAST CHAMBER）用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验。
► 采用上下双槽式设计 ，节省实验室占地空间，1台机的价格=2台机的价值，降低设备使用成本。
► 单屏双控，减少复杂繁琐设定，满足不同试样同时测试，提高试验效率。
► 96路偏压端子设计，满足芯片偏压测试。
► 产品兼容HAST不饱和高压蒸汽的恒定湿热测试和PCT饱和高压蒸汽测试。
► 自动箱门设计，按钮控制箱门开合，自带压力保护。
应用领域：
用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验
产品特点
满足标准：
AEC-Q100-REV-J
AEC-Q101-REV-E
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
技术规格
*可定制任意参数规格和型号大小
| 两槽式HAST高压加速老化箱 | |||||
| 型号Model | WBE-2HAST-30 | WBE-2HAST-40 | WBE-2HAST-55 | WBE-2HAST-65 | |
| 单个槽容积（L） | 31 L | 69 L | 154 L | 248 L | |
| 内箱尺寸 （mm） | 直径φ | 350 | 400 | 550 | 650 |
| 深D | 450 | 550 | 650 | 750 | |
| 外箱尺寸 （mm） | 宽W | 700 | 700 | 850 | 950 |
| 深D | 1000 | 1000 | 1150 | 1350 | |
| 高H | 1710 | 1710 | 1760 | 1860 | |
| 性能指标 | 温度范围 | A： +100~+143℃； B： +100~+156℃ | |||
| 湿度范围 | 60%~99%RH | ||||
| 压力范围 | A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa) | ||||
| 温度均匀度 | ≤±2℃ | ||||
| 温度波动度 | ≤±0.5℃ | ||||
| 湿度波动度 | ≤±2 % R.H | ||||
| 湿度偏差 | ≤±3 % R.H | ||||
| 温度偏差 | ≤±2℃ | ||||
| 压力偏差 | ≤±2Kpa | ||||
| 升温时间 | 常温～+ 143℃ 约45 min ；常温～+ 156℃ 约55 min | ||||
| 升压时间 | 常压～3kg/cm² 约35 min，外部气源加压：约5 min | ||||
| 功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW | 5KW | |
| 箱体材质 | 内箱 | SUS #316不锈钢 | |||
| 外箱 | 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理 | ||||
| 保温 | 超细 | ||||
| 噪音 | ≤60（dB） | ||||
| 控制器 | 7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据） | ||||
| 分辨率 | 温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²； | ||||
| 加压方式 | 1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压 | ||||
| BIAS偏压端子 | （选配订购时需注明） | ||||
| 使用条件 | 环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa | ||||
| 电源 | AC220V 50/60Hz | ||||
| 保护装置 | 1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护， 7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护 | ||||
