Marveloc-CURTAIN-C 比利时 Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪

比利时 Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪赫尔纳供应

比利时 Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪赫尔纳供应，由赫尔纳德国总部直接采购，近30年进口工业品经验，原装产品，支持选型，为您提供一对一好的解决方案：货期稳定，快速报价，价格优，设有8大办事处提供相关售后服务。

公司简介：

Hammer-IMS是一家源自欧洲比利时的机械制造公司。我们产品所采用的技术是创新和可持续发展的，是多年前在比利时著名的鲁汶大学内创造的。

比利时Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪相关产品型号：

Marveloc-CURTAIN-C、Marveloc-CURTAIN-O、Edge-Vision-4.0-CURTAIN-C、Edge-Vision-4.0-CURTAIN-O、Connectivity 3.0

比利时Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪产品介绍：

Hammer-IMS 测量系统是定制的，适合每个项目。对于电池行业，我们开发了一套系统，可确保电池薄膜的完整质量控制。

我们的系统非常适合测量压延后涂层薄膜的厚度，其中薄膜通过旋转辊压缩以达到所需的线压力。这确保了电池单元中适当的电极润湿特性和能量密度。准确的压延后厚度测量是电池生产中的关键质量检查。

比利时Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪优势特点：

Ø 检测到50x50微米的针孔和其他异常情况

Ø 边缘到边缘的材料表面分析

Ø 配备了专业的线扫描相机

Ø 与PTP多扫描同步

Ø 利用 Connectivity 软件 3.0 进行实时分析

Ø 光源系统，能够发现即使是最小的表面异常。

比利时Hammer-IMS 电池薄膜测厚仪产品应用：

Ø 定量测量：U-Ray 是一种用于定量测量的超声波技术，针对 C-Rays（我们的电容技术）和 M-Rays（我们的毫米波技术）等电磁方法无效的材料进行了优化。它非常适合薄材料的质量控制，例如金属基材上的电池薄膜。

Ø 厚度测量：共焦光学传感器，专为高精度、非接触式厚度测量而设计。该装置包括两个传感器头，用于测量到材料的距离，使系统能够准确确定材料的厚度。与 U 射线头一样，共焦激光传感器也需要定期校准以确保精确测量。

Ø 边缘检测：对比度传感器非常适合电池薄膜生产中的边缘检测。其高灰度分辨率和快速响应时间确保了可靠的检测，即使是在铝箔或铜箔等反光材料上也是如此。为了达到最佳精度，安装了两个传感器（一个位于薄膜的顶部，一个位于薄膜的底部），检测两侧的边缘。该装置精确测量涂层和箔片之间的边缘，确保涂层的精确对准。