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气体水分湿度检测仪 银川高精度露点仪校准
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详细信息
XLO-K08
+20 ～ -100℃ 0-1000PPmv （量程可定制）
0.1℃ 同时显示PPmv、mg/m3
≤±2℃
≤±1.5℃
T90≤5min（由低湿到高湿）
≤5min
2000±50mL/min
0.01Mpa≤入口压力≤0.20Mpa
0-50℃
－5℃～＋50℃
≤90%RH
100～240VAC 50/60Hz 1A
一次充电可使用8-12小时
260mm（宽）X 145mm（高）X 330mm（深）
约4kg
氧化铝或高分子薄膜传感器
常规气体均可以（如果含有腐蚀性气体订货时必须说明）
大于五年（正常使用）
大于三年（正常使用）
温湿度露点仪具有双显示功能，即显示温度、湿度，又可在主机上以清晰的数码管显示值。无论白天、夜晚、室内、室外都可清晰显示测量值。特别适合手套箱、锂电池行业。光线不足也能清楚看得到，面板液晶显示按钮可对露点仪进行手动修正偏差，所得结果写入探头，从而保持各个探头的一致性。该仪器可对所有探头进行校正（操作方法随机器），仪器带有轻巧把手也可以作为便携式使用。
晶体振荡式露点仪
利用晶体沾湿后振荡频率改变的特性，可以设计晶体振荡式露点仪。这是一项较新的技术，目前尚处于不十分成熟的阶段。国外有相关产品，但精度较差且成本很高。
露点仪采用采用128*64点阵液晶显示，台式或盘装，方便快捷，其工作原理是根据水分子的浓度对电容容值的变化，从而测量体中微量水分的含量。采用进口氧化铝或高分子薄膜传感器及的数字处理技术，实现对微量水分的连续快速在线分析。广泛应用于空分制氮、天然气、石油化工、高温烧结炉保护气体、电子行业保护性气体、食品工业、工业、机械制造及各种混合气体中微量水分的快速分析。
半导体传感器露点仪
每个水分子都具有其自然振动频率，当它进入半导体晶格的空隙时，就和受到充电激励的晶格产生共振，其共振频率与水的摩尔数成正比。水分子的共振能使半导体结放出自由电子，从而使晶格的导电率，阻抗减小。
电介法露点仪
利用五氧化二磷等材料吸湿后分解成极性分子，从而在电极上积累电荷的特性，设计出建立在含湿量单位制上的电解法微水份仪。
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