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现场/远程-飞行时间二次离子质谱

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FOF实验室:为北京依维特技术服务有限公司旗下专业检测实验室,为自主独立第三方检测机构。公司伊始以来服务于,科研,高校等。如航天科工,系统,985/211中多所高校,来帮助客户解决样品多,机时少等诸多问题。公司拥有专业的导师顾问,解决实验上的疑难杂症,让科研人得之所需,需之即快的服务体验。 实验室上线网上商城2.0版-- ,实现网上自由订单模式,客户轻松自助下单,避免传统人工下单的时间久,不透明等弊处。客户可随时随地在网站内查看订单状态,完成情况。有专业项目经理随时在线沟通,为您的样品保驾护航,解决您最关心的检测问题。 实验室使用仪器均为日立,FEI,布鲁克等行业品牌,精准剖析样品本质。实验工程师皆有多年仪器操作经验,熟悉材料,生物等样品特性,选择合适的测试环境,严谨的测试方法,严格把控实验环节,得到您最想要的实验结果。 检测覆盖:微观形貌有扫描电镜,透射电镜,球差电镜,FIB等,可在样品收到当天得出数据,反馈予客户,享受到测试体验。成分分析拥有国内同步辐射资源。更有结构分析,理化性能,环境工业...等测试能力。高效的测试反馈可解您的燃眉之急。

详细信息

设备介绍

飞行时间二次离子质谱技术(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量,具有分辨率的测量技术。

仪器型号

飞行时间二次离子质谱IONTOF 5

技术参数

  • TOF.SIMS 5 – 100包括分析器,真空系统,软硬件等基本配置
  • Bi Nanoprobe第二代液态金属团簇离子源,30kV,离子光学镜筒,3级透镜
  • Gas Cluster离子源20kV气体团簇离子源
  • DSC-S用于深度剖析溅射用离子源的连接控制装置

案例展示

    应用范围

    应用范围:当产品表面存在微小的异物,而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析,可选择TOF-SIMS.

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