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仅需要几分钟时间,Duetto就能提供:
A. XRD分析矿物及物相鉴定
B. XRF元素分析
两种技术均采用反射几何技术,无需接触物件
当X射线接触物件时,同时产生XRD和XRF信号
X射线衍射(XRD)
入射X射线照射在样品上,会在特定的角度产生与入射光能量相同的衍射信号,从而实现结晶相和矿物鉴别;
X射线荧光(XRF)
入射X射线接触到样品时,会使样品内的原子受激发产生X射线荧光,向四周发散,从而判断元素组成。
XRD有效角度=20°~55°2θ
→在机械部件与衍射角度范围之间妥协
→小角衍射需要精密控制设备与分析表面的距离
XRF能量范围=3到25KeV
Duetto由于其的构造及可弯曲分析头,可适用于分析各种各样的样品。
将分析头放置于三脚架上,使用激光测量工具将分析头对齐到被测试物件,即可收集XRF及XRD数据。
Duetto
镉橙-CdS(Se掺杂)-颜料
镉橙-商业产品
10 exposures – 5 分钟
100 exposures – 50 分钟
1000 exposures – 8.3 小时
美国盖蒂博物馆
• XRD 分辨率: 0.25°2θ FWHM
• XRD 范围: 20-55°2θ: 机械部件的妥协
• XRF 能量分辨率: 200 eV at 5.9 keV
• XRF 能量范围: 3 to 25 keV
• XRD 几何构造: 反射法
•样品要求: 平面或凸起(不限尺寸)
• X-ray 阳极材料: Co or Cu (Cu 标配)
• X-ray 射线管电压: 30kV
• X-ray射线管功率: 10W
•探测器类型: 1024 x 256 像素 - 2D 帕尔贴-自冷却 CCD探测器
•数据存储容量: 40 Gb
•无线连接: 802.11 b/g r
•电池驱动 (4 hours 支持热交换)
•工作温度: -10°C to 35°C
•尺寸: 48.5 x 39.2 x 19.2 cm 基体; 8.5 X 16 X 4 cm 头部
•重量: 12 kg 基体; 7kg 头部