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高精度偏光显微熔点仪XRD
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详细信息
1高精度偏光显微熔点仪XRD 特点和应用方向
XRD型偏光显微熔点仪是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料科学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察记录其融化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。并采用人性化设计，自动化程度高，操作简单，技术*，性能优秀，结构新颖可靠。
2高精度偏光显微熔点仪XRD 产品参数
技术规格
输入电源 | 交流170-264V 50/60HZ |
热台加热工作电源 | 直流24V 3A |
功耗 | 75W |
温度范围 | 室温-400℃ |
热台外体温度 | 当热体400℃，室温25℃时，外体温度≤70℃ |
热体载物重量 | 200克，加热体大小Ф30 |
工作方式 | 连续 |
测量精度 | 全范围≤±0.3% |
系统波动度 | ±1℃ |
升温速度 | 室温～100℃，≤80秒 |
可设置最慢升温速度 | 室温达到400℃，4小时 |
可设置升温速度范围 | 占空比0～99% |
即刻恒温响应时间 | ＜10毫秒 |
工作台外型尺寸 | 直径110MM，厚度12MM |
工作台加热面尺寸 | 37MM |
重量 | 8KG |
