Marveloc-CHARIOT 比利时Hammer-IMS 测量系统赫尔纳供应

比利时Hammer-IMS 测量系统赫尔纳供应

比利时Hammer-IMS 测量系统赫尔纳供应，由赫尔纳德国总部直接采购，近30年进口工业品经验,原装产品,支持选型，为您提供一对一好的解决方案：货期稳定，快速报价，价格优，设有8大办事处提供相关售后服务。

公司简介：

Hammer-IMS致力于各种形式的可持续发展——经济、生态和社会。我们的机器不含核部件，优先考虑环保和安全的技术。

比利时Hammer-IMS Marveloc-CHARIOT 测量系统产品型号：

Marveloc-CHARIOT-电容式C射线、Marveloc-CHARIOT-激光器采用L射线

比利时Hammer-IMS Marveloc-CHARIOT 测量系统产品介绍：

Marveloc-CHARIOT非常适合新生产线或空间有限的改造，以实现真正的厚度测量。该紧凑型系统可在高精度模式（材料厚度高达 25 毫米）或扩展范围模式（材料厚度超过 25 毫米）下有效测量厚度。单个测量头在整个产品宽度而不是整个框架上移动。借助创新的测量头和新的评估技术，您可以优化流程并确保高生产质量。

Chariot 平台配备了我们的 Marveloc 技术，更具体地说，配备了我们的 C 射线或 L 射线传感器。基于 C-Ray 的 Chariot 机器测量塑料薄膜等薄材料的厚度，而 L-Ray 机器版本则测量较厚的绝缘板、挤压板和泡沫。 Chariot 包含一个由感应传感器测量的参考辊。 Chariot 的轻松传感器集成和固定机架内的移动传感器单元对于节省成本和空间的在线厚度测量非常有价值。

比利时Hammer-IMS Marveloc-CHARIOT 测量系统工作原理：

Ø 我们的 C-Ray 技术将强大的电容技术与集成的可变支距补偿相结合。 Hammer-IMS 开发了自己的内部电容解决方案，这些解决方案针对小测量点的测量性能、增加的测量间隙或其组合进行了优化。

Ø Marveloc L-Ray 技术基于一个或多个激光三角测量传感器。在典型设置中，Hammer-IMS 的 L 射线传感器技术应用两个相对的激光传感器以差分方式测量片材和薄膜的厚度（一个激光在顶部，另一个在下面）。特定传感器的选择将与客户当前的应用相匹配：高范围与高精度、针对粗糙或光亮表面进行优化等。基于 L-Ray 的 Chariot 可测量一系列地板和建筑材料的厚度厚度可达 200 毫米。

比利时Hammer-IMS Marveloc-CHARIOT 测量系统检测类别：

从薄膜到厚的多层 LVT 片材和 PVC 泡沫。

比利时Hammer-IMS Marveloc-CHARIOT 测量系统优势特点

Ø Chariot 提供单个行驶传感器单元

Ø 用于薄材料厚度测量的 C 射线

Ø L-Ray 用于厚材料的厚度测量

Ø L 射线和 C 射线代替核和放射性传感器

Ø 进一步降低在线测量的 TCO