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制冷光纤光谱仪
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LiSpec-UVIR300TEC制冷光纤光谱仪是莱森光学（LiSen Optics）的明星产品，采用了在200-1000nm高量子效率的1044x64像素薄型背照制冷型面阵CCD，其像元尺寸达到24µm×24µm，具有非常高的科研级灵敏度，同时采用了高性能稳定的TE制冷装置、降噪低噪声电路控制技术，光谱仪暗噪声极低，优良的稳定性，高信噪比。LiSpec-UVIR300TEC采用了大焦距C-T光学平台设计，杂散光光陷阱控制技术，大大提升了光谱仪的性噪比、灵敏度以及热稳定性，非常适合紫外辐射、拉曼、荧光等微弱光谱信号的测量。
LiSpec-UVIR300TEC制冷光纤光谱仪光谱覆盖范围200-950nm，可根据用户需求配置不同刻线数的光栅，狭缝大小，消二级衍射滤光片，获得不同的波长范围光谱和分辨率。此外，LiSpec-UVIR300TEC光谱仪还采用了可更换狭缝设计，用户可以方便轻易的自己进行狭缝更换，配置多种不同宽度的狭缝，以满足不同分辨率和灵敏度的光谱测量需求，以拓展其灵活性。
光谱范围200-950nm可选，大焦距CT光路设计，分辨率高，狭缝可更换，扩展灵活
热电致冷背照式面阵CCD，光谱响应量子效率高、稳定性好
噪声电路控制技术，极低暗噪声，信噪比、动态范围高
高灵敏度及热稳定性，非常适合拉曼、荧光等微弱信号光谱应用
LiSpecView全功能光谱测试软件，提供透反射、辐射、拉曼、吸光度、激光功率、颜色测量等多种测量模块
Model | LiSpec-UVIR300TEC |
光学平台 | 对称 Czerny-Turner，焦距110mm |
光谱范围 | 200-950 nm(可选) |
光学分辨率（FWHM） | 0.2-5nm(取决于光栅配置) |
狭缝 | 50um |
杂散光 | ≤0.05% |
灵敏度（计数/微瓦每毫秒） | 550.000 |
探测器 | 薄型背照式TE致冷1044X644像元面阵CCD |
CCD制冷温度 | DT = -35 °C（相对环境温度） |
信噪比 | 1200:1 |
动态范围 | 65000:1 |
暗噪声（RMS） | ≤3 counts |
AD 转换 | 18-bit， 6 MHz |
校正线性 | ≥99% |
积分时间 | 1ms-15min |
接口 | USB 2.0 (120 Mbps) / RS-232 (115200mMbps) |
光纤接头 | SMA905；FC/PC接头 |
滤光片 | 内含线性渐变消高阶滤光片 |
探测器 | 面阵背照式制冷型CCD，1044×64 pixels，像素大小24×24μm2； TEC制冷： -15℃；温度稳定性：±0.1℃；灵敏度550,000 counts/μW per ms；量子效率：≥85%； |
I/O接口 | IPT1-30接口、1路模拟输入、 2路数字输入、2路数字输出、触发同步 |
拓展功能口 | 30 pin 扩展功能口，支持BreakOut-Board及BreakOut-Cable 扩展外部功能 |
软件 | 包含7种常用光谱测量模式，C模式、-BK模式、R模式、T模式、A模式、Ab模式及Ir模式；支持4 种触发模式，包括Normal、Level、Edge及Synchronization触发模式；还包含CIE1976Lab颜色测量功能，CIE标准测量光度参数，辐射度学参数，峰值波长，FWHM,辐射积分强度，激光功率功能，随时间监测光强度功能 |
供电 | USB 2.0，250mA（默认） |
工作温度 | 0-55℃ |
尺寸/重量 | 190 × 120 × 66 mm，1Kg |
拉曼测量系统主要由光谱仪、激光器、拉曼探头、拉曼识别光谱分析软件等组成，拉曼散射主要为斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射强得多，拉曼光谱仪通常测定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光谱仪有532/785/1064拉曼光谱仪，拉曼测量相对荧光信号会更弱一个数量级，
通常我们在针对微弱拉曼信号测量我们要进行表面拉曼增强（SERS）的方法来提高拉曼信号SERS。
LiSpec-UVIR300TEC制冷光纤光谱仪因其的灵敏度和高信噪比的特点，可以搭配激光器、拉曼探头等配件，进行对微弱光谱信号的拉曼测量应用，广泛应用于食品安全、化学实验室、生物及医学等光学方面领域，研究物质成分的判定与确认；还可以应用于刑侦中对的检测及珠宝行业的宝石鉴定。
物体的颜色可以由CIE1976（L*a*b*）颜色空间来表述。L*代表颜色的亮度，正a*值代表红色，负a*值代表绿色，色调（Hue），色度（Chroma），与此相似，正b*值代表黄色，负b*值代表蓝色。L*a*b*值可由样品（物体）的CIE三刺激值X，Y，Z和标准光源的三刺激值Xn，Yn，Zn推导得到，物体颜色的CIE三刺激值X，Y，Z是把标准光源的相对功率P、物体的反射率R（或透射率T）和CIE标准观测函数（2度或10度角）相乘得到。把所得到的值在可见光范围内（从380到780nm，5nm步长）对波长进行积分就可得到三刺激值。专业的颜色测量软件，测量得到的L*a*b*值和参考色，就可以得到色差。
辐射光能量可以量化为辐射通量，即一种表征从光源发出的每秒辐射能量（W）的度量标准。辐射测量一般要通过已知光谱能量分布的标准光源，对光谱仪系统进行辐射标定，才能通过量化参数进行辐射测量。辐射能量与人眼视觉相关联（光度学），就可以得到按照CIE中所定义的表征观测者平均视觉的光谱发光效率函数。因此辐射测量定义辐射度学参数、光度学参数、色度学参数。辐射度学参数主要以辐照度μW/cm2、辐亮度µWatt/sr、辐射通量µWatt以及光子数µMol/s/m2，µMol/m2，µMol/s和µMol，光度学参数流明Lumens、光照度Lux、光强度Candela，色度学参数X，Y，Z，x，y，z，u，v，色温、CRI显色指数等
光谱仪测量吸光度的方法是将某一波长的平行光通过一块平面平行物体，对透过物体的光束进行检测。由于一部分能量被样品中的分子吸收，检测的入射光的强度要高于透过样品的光强。吸光度被广泛运用于液体和气体的光谱测量技术中，可以对物质进行定量鉴别或指纹认证等，还可以将该应用集成到工业应用环境和客户所关注的测试中。
使用莱森光学模块化光谱仪，可针对特定的吸光度测量来选择不同波长范围和分辨率的光谱仪，并且能在实验室或者现场，对整套光学测量装置进行快速配置。可以基于莱森光学优质的光谱仪，选择紫外光源、不同光程气室、吸收池、特定吸收光路模块、光纤探头进行灵活易用的搭配，针对不同的吸光度试验搭配出多种配置选择。
薄膜测量系统是基于白光干涉原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜，若已知薄膜介质的n和k值即可计算出它的物理厚度。测量的膜层厚度从10 nm到50 um，分辨率可达1 nm。薄膜测量应用于半导体晶片生产工业，此时需要监控等离子刻蚀和沉积加工过程。还可用于其它需要测量在金属和玻璃基底上镀制透明膜层的领域，如金属表面的透明涂层和玻璃衬底。
随着工业的蓬勃发展，对材料本身特性的质量控制愈加严格，利用光纤光谱仪进行快速准确的透/反射光谱的测量技术也日益成熟。透/反射光谱测量是光谱测量的基本手段，通常需要使用光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等设备。对于不同种类的样品，为了获取更好的光谱数据，这两种基本模式又会演化为更多的形式。
光纤光谱仪采用光纤光路，解决了光路在仪器集成中的限制。并且莱森光学的光纤光谱仪具有体积小，稳定性高，支持软件二次开发，配件丰富等特点，已经成功的广泛应用于玻璃、高分子材料等行业的测试。莱森光学为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备，利用这些配置丰富的设备，即可搭建各种常见的光谱测量系统。
荧光物质在特定波长的辐射能量辐射下，能发射出具有一定光谱分布的辐射。荧光光谱测量灵敏度高、选择性强、样品用量少、方法简便且具备环保性，具有如上诸多优点，所以在工程应用中有着广泛的应用，如在食品加工过程中用于食品安全的监测、生物医学中用于病变的荧光诊断、地质学中用于石油矿物勘探、
土壤矿物成分的测定以及物质中微量元素的检测等等。
荧光光谱测量通常需要高灵敏度的光谱仪。对于大多数荧光应用来说，产生的荧光能量只相当于激发光能量的3%左右。荧光的光子能量比激发光的光子能量小，波长长，而且一般都是在各个方向上辐射能量的散射光。莱森光学光纤光谱仪采用了可更换狭缝、可选择的波长范围和分辨率设计，使客户能根据自己的需求配置自由搭配适合参数的荧光测量系统。
