HORIBA X荧光光谱仪

HORIBA X荧光光谱仪

没有什么技术可以如此简单的获得如此多的信息。仅仅需要点击感兴趣区域，就可以开始测量。并可以获得光学图像和元素面分布图的*结合的测量结果。

单点分析以及自动球面成像 ，双真空管模式，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.

单点分析以及自动成像，正常大气压力下分析，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.

 新一代的HORIBA X荧光光谱仪 开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析*地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。
     SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描；高能量分辨率，高计数率的测量，且无需液氮。
     双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换（大气或真空）。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量    
     所有元素的高灵敏度。
     *的硬件设计确保了XGT-7200操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 µm和1.2 mm间切换，以保证获得
     测量条件，无论是微观到宏观。
     与x射线导管同轴的CCD相机，可以迅速、精确地定位感兴趣区域。

有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用：电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。 XGT-7200的灵活设计，保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果，无论是分析大区域，还是对微区细节分析，或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。

主要特点：

1、 技术：可将X射线全反射聚焦的聚光导管。
2、  XGT技术创造了世界上小的分析用X射线光斑（10µm）
丰富强大的分析功能
1、  将光学图像与元素分析*结合，轻松实现样品中元素的分布分析。
2、  提供革命性的10µm直径X射线束，实现对样品高分辨率的元素分析。
3、  利用X射线的穿透性可以无损地对样品内部结构进行观察。
4、  提供多种样品图谱采集方式，单点分析，多点分析，X射线透过像，高光谱元素面分布图像
5、  完备的数据分析包提供定性分析，定量分析，多层厚度分析，谱图分析，谱图匹配，谱图比较，RGB图像合成等丰富的功能。
6、  双真空模式，局部真空模式用于粉末样品，含水样品或生物样品进行分析，全真空模式可以进一步提供轻元素的分析精度。