X射线镀层测厚仪

• 分析含量：ppm到99.9%
• 温度适应范围：15℃至30℃
• 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
• 样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
• 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层
• 移动平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

 光谱仪( Spectroscope)是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器。光谱仪有多种类型，除在可见光波段使用的光谱仪外，还有红外光谱仪和紫外光谱仪。按色散元件的不同可分为棱镜光谱仪、光栅光谱仪和干涉光谱仪等。按探测方法分，有直接用眼观察的分光镜，用感光片记录的摄谱仪，以及用光电或热电元件探测光谱的分光光度计等。单色仪是通过狭缝只输出单色谱线的光谱仪器，常与其他分析仪器配合使用。

X射线镀层测厚仪

 电子产品中以铅为代表的有害物质的使用给环保带来了压力。据统计，目前电子信息产品光每年使用的封装材料中就有将近2万吨的铅。我国是电子信息产品的使用和生产大国，目前各种家电的社会保有量超过10亿台，每年有3000多万台电子产品进入报废期。国家*数据表明，若按家电正常使用寿命10年-15年计算，从现在起，我国每年将至少有500万台电视机、400万台电冰箱、600万台洗衣机要报废。此外，近年来我国电脑、手机等电子产品的消费量激增，更新速度远快于家电产品，目前约有500万台电脑、上千万部手机已进入淘汰期。我国电子信息产品目前已到了淘汰的高峰期，因此正确控制电子污染，是促进国民经济发展与构建和谐社会的基础。 

X射线镀层测厚仪

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg