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JVL系列光学影像测量仪
能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,特别是精密零部件的微观检测与质量控制。本产品适用于产品开发、逆向工程、品质检测等领域,如钟表零件、电子接插件、五金冲压件、弹簧、线路板等。
JVL系列光学影像测量仪 特点:
OVM Lite简易版影像测量软件,易学易用;
高硬度、高精密、不易变形的花岗石底座及立柱,稳定、耐用;
底光和表面光采用可调式冷光源(LED),性能稳定,方便操作;
测量过程中可连续变倍,使操作更快捷;
X、Y轴均采用滑块和导轨结构,减小测量误差,保证测量精度;
具备图文报表输出功能,可以轻松地得到检测结果。
JVL系列光学影像测量仪 技术参数:
型号 | JVL2010 | JVL3020 |
量测行程(X/Y) (mm) | 200×100×100 | 300×200×200 |
全机尺寸(mm) | 1000×650×1650 | |
机台承重kg | 30 | |
操作方式 | 手动(可切换快速移动 | |
放大倍率 | 光学放大:0.7~4.5×;影像放大:28×~180× | |
电源要求 | 110V—220V±10% 50/60HZ | |
光学尺解析度 | 0.001mm | |
线性精度(X/Y) | (3+L/200)μm | |
量测精度 | X和Y轴:±2μm | |
重复性 | ±2μm | |
CCD | 进口彩色(41万象素SONY sensor) | |
测量软件 | OVM Lite | |
适合环境 | 温度:20~25℃ 湿度:50%~60% | |
电脑配置 | 高性能主机+17寸纯平彩显 |