CAF测试系统 HAST高加速老化寿命试验箱

绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。CAF是指印制线路板内部在电场作用下跨越非金属基材而迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁移。它通常发生在印制线路板基材中沿玻璃纤维到树脂的界面上，从而导致两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至造成短路，是印制线路板产生电气故障的一个重大而且具有潜在危险的根源。

CAF测试系统 HAST高加速老化寿命试验箱

应用：PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等，GBA、DSP等，IC封装、电容器、连接器等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。

特点：

·高机能:采用驱动计测测试时焊接工序大幅减少软件设计简单明了，直观易操N远程监控功能，可监控试验过程。

·便利性高:构造装着脱落式易进行保养交换。可同时试验停止等联动装置功能，系统构成灵活。

·测试自检功能:点检、校正方便。

·设计精巧，不受场所限制，易移动。

·可靠性高:配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，保证试验的安全继续进行。

随着电子设备在智能化的方向及小型化、轻量化迅速发展，印制线路板的线路也越来越细，间距越来越小，绝缘层越来越薄，钻孔尺寸也向更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。因此，在印制线路板的质量与可靠性测试中，CAF的测试也就变得越来越重要。

可与zonglen HAST高加速老化试验箱配合使用，主要用于产品导通电阻性能验证。更好的保证您PCB检测的精度和可靠性。