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高精度测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。高精度测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。
采用世界zui先技术,精度高达0.1um,多次测量结果高度*性;操作调试方便,测量结果进行统计、分析、打印输出;
可连接计算机,根据客户的需求选择按数据表统计或柱状图进行统计两种方式,同时还可以试验的数据转换成网页格式,实际在网络或局域网内进行数据的传输。
技术指标:
测量范围:0~2mm(常规)
0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制