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XPF400C型偏光熔点仪 XPF400C型偏光熔点仪2

型号
XPF400C型偏光熔点仪

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苏州景通仪器有限公司坐落于苏州工业园区,公司以显微镜和计算机图像视觉技术为特长。常年与各类高校及科研院所达成技术交流合作关系,以专业应用技术为优势,以产品成套性解决方案为己长,切实高效、科学、经济地为客户解决问题。作为国内的光学与显微数字成像解决方案提供商,我们专注于轻工、机械、电子、冶金、医药研究、环境监测、教育及生命科学等领域。我们的产品包括光学显微镜,数字成像设备,显微图像分析软件,显微镜配套制样设备,计量检测设备及光学元件等。景通仪器拥有经验丰富的产品研发和销售团队,为客户提供技术*、性能可靠、成本可控的优质产品。同时也为有需求的客户提供ODM和OEM服务;产品除了国内市场还远销欧美、中东、东南亚等地,与很多客户建立了长期友好的战略合作关系。景通仪器以丰富的行业经验、优秀的产品质量、热诚的工作团队,为客户提供适当的产品解决方案,以及完善的售前售后服务,努力践行“以客户为本·以服务为本”的经营理念。 感谢您对景通仪器的关注,期待您成为我们的合作伙伴,携手共创美好明天!

详细信息

景通显微镜报价网友情提示:

由于该产品已进行多次功能升级和更新迭代,我们不保证XPF400C型偏光熔点仪提供的图片和各项参数等信息均为,我们建议您点击此处联系我们的在线工程师为您服务,同时我们也欢迎您电话咨询:!

一、仪器的主要用途和特点
XPF400C型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域,适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPF400C系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术,多年研究开发的结果,在国内享有.本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

二、系统数字性

XPF400C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、*的光电转换技术、的计算机成像技术和精密的温控技术地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像,并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。

三、仪器的主要技术指标

1.显微镜技术参数:

名称

规格

总放大倍数:

40X---630X

无应力消色差物镜

4X/0.1

10X/0.25

25X/0.40

40X/0.65 弹簧

63X/0.85 弹簧

目镜

10X 十字目镜

10X 分划目镜

试片

石膏 1λ 试片

云母 1/4λ 试片

石英楔子试片

测微尺

0.01mm

滤色片

蓝色

带座目镜网络尺

移动尺

移动范围 30mm×40mm

镜筒

三目观察


2.熔点仪技术参数:

热台组成

性能

显微精密控温仪

在 20倍物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定, 30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数

显微加热平台

可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
*起始温度室温
*工作区加热使用面积至少 1X1厘米
*工作区温度梯度不超过 ± 0.1
*透光区域 2mm以上,可调
*显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
*热台可以随载物台移动
在加热状态下可使用 20倍物镜

注意: 熔点测定(温度超过100度时,25X的物镜工作距离
太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜)

四、系统组成

1、偏光显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、采集卡 5、计算机(选配)

五、选购件:

1、150万像素成像器
2、偏光显微镜分析软件
3、100X无应力消色差物镜(带浸油1瓶)

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