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粒度粒形分析仪

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粒度分析仪
珠海真理光学仪器有限公司专注于颗粒表征和分析仪器的研发和生产,公司聚集了多位在颗粒学和粉体技术领域具有丰富经验和工作成就的精英人才,其专业涵盖颗粒表征技术的基础理论研究、应用技术开发、产品制造、技术支持和商业运营服务。 真理光学技术团队具有超过二十年粒度表征行业从业经验,参与了一台商用激光粒度分析仪的研制。LT系列是真理光学基于多年的科研成果并融合多项技术开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统,为激光粒度分析行业树立了新。LT系列粒度仪被广泛用于磨料、制药、化工、电池材料、地质、水文等行业的颗粒粒度表征分析。Nanolink SZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统,采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析,被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。多年的科学研究和激光衍射技术创新成果,为测量和分析高速喷雾的粒度奠定了基础。喷雾颗粒的高速运动、粒径范围宽及雾场的动态变化,要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和光散射信号的高速处理能力。Spraylink系列超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计,以实现对喷雾粒度进行准确的分析。PATlink 1000系列是真理光学基于粒度表征技术及自动化过程控制技术开发的新一代全实时在线粒度监测与控制系统,适合干法和湿法的生产工艺过程,既可用于在线粒度测量,也可以用于线上和现场的粒度分析。具有坚固的架构和的技术支撑,可满足苛刻及复杂的过程工艺环境。 从纳米到微米,从固体颗粒到乳液、喷雾,从实验室到生产线上,真理光学始终致力于为客户提供全面的颗粒表征仪器和应用技术方案!

详细信息

    粒度粒形分析仪是指不仅分析颗粒的粒径分布,同时还可以分析不同颗粒形状的分布。这对分析原材料是非常重要的物性指标。
    举碳酸钙行业为例,产品的粒径和粒形对于不同行业的应用:
 
    粒度粒形分析仪广泛适用于工业、生物、地质领域,无论是水相的还是有机溶液相的所有样品都能进行实时分析,瞬间给出分析结果,快速、即时反馈实验进程。
    可以分析选择不同颗粒形状的分布,捕获图像后即刻进行分析,这对分析原材料是非常重要的。
(图片来源于碳酸钙行业大会的会议报告现场PPT)

测量原理

 

激光衍射

光学模型

 

全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选

粒径范围

 

0.015μm-3600μm,无需更换透镜,不依赖标样校准

检测系统

 

包含格栅式超大角度,非均匀交叉面积补偿检测器阵列及高灵敏度格栅式

后向散射检测单元

光源

 

集成恒温系统的638nm20mW固体激光器

空间滤波方式

 

非针孔式偏振滤波技术

光学对中系统

 

智能全自动

测量时间

 

典型值小于10

测量速度

 

可达20000/

准确度

 

Dv50优于±0.6% NIST可溯源乳胶标样)

重复性

 

Dv50优于±0.5% NIST可溯源乳胶标样)

激光安全

 

1类激光产品

     

计算机配置

 

Intel i5处理器,4GB内存,250GB硬盘,鼠标,键盘和宽屏显示器

计算机接口

 

USB2.0或以上

软件运行平台

 

Windows7或以上专业版

操作环境温度

 

5-40

操作环境湿度

 

10%-85%相对湿度(无结凝)

电源要求

 

交流220V50Hz-60Hz,标准接地

     

光学系统重量

 

29kg

光学系统尺寸

 

636mm x 275mm x 320mm

 

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