DRE-III DRE-III多功能快速导热系数测试仪（瞬态平面热源法、HotDisk法）

主要测量固体、岩土、粉末、液体、糊状、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数、导温系数（热扩散系数）和比热、蓄热系数及热阻。

    DRE-III多功能快速导热系数测试仪（瞬态平面热源法）
                       (Hot Disk法导热系数测试仪)

一，概述：
       本导热仪采用瞬态平面热源法，基于TPS瞬态平面热源技术，用Hot Disk探头,专用高精度单元仪表的测试与通迅技术,利用计算机高速数据处理技术对探头进行快速数据采集、通过完善的数学模型快速计算,能迅速测试出准确可靠的结果；专业仪表使整机可靠性特高，操作方便，维护迅速方便。
   该仪器的优点有：
    (1)直接测量热传播，可以节约大量的时间；
    (2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响；
    (3)无须特别的样品制备，对固态材料只需有一个相对平整的样品表面。具有测量速度快、适用范围宽以及能够成功避免在实验过程中自然对流的影响等优点，是目前比较流行的测试方法。
     设备参考标准：ISO 22007-2 2008。
     测试材料: 金属、陶瓷、合金、导热硅脂、硅胶、硅橡胶、岩土、岩石、聚合物、纸、织物、泡沫塑料、混凝土、复合板材、纸蜂窝板等固体、粉末、液体、糊状、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数、导温系数（热扩散系数）和比热容、蓄热系数及热阻。
 二，主要技术参数：
      1.导热系数测定范围：0.0001～100 w/(m.k),分辩率为0.00001w/(m.k)；
      2.热扩散系数（导温系数）范围：0.1～100 m²/s；
      3.蓄热系数范围：0.1～30 w/(m².k)；
      4.比热容范围：0.1～5 kJ/(kg.℃)；
      5.热阻范围：0.5～0.000005 mm².k/w；
      6.温度测量精度：≤0.001℃；
      7.测量相对误差：≤3%；
      8.重复性误差：≤ 3%；          
      9.测试时间：1～120 秒。
      10.试样测试温度范围：-40～130℃；标准配置：室温。
可根据客户要求选配各种高、低温度段控制箱(-40～130℃)或真空状态下的测试状态,合同约定，费用另计；
      11.探头配置：标准配置：直径Φ15mm。
可根据客户要求选配探头直径：Φ15mm、Φ7.5mm、或同时配置，合同约定，费用另计；
      12.试样要求：
          a、固体块状或圆形、方形、异形样品，无须特别制备，只需一个相对平整的样品表面,配有专用试样装夹装置。Φ7.5mm探头所测样品最小尺寸（15x15x3.75mm), Φ15mm探头所测样品最小尺寸 (30x30x7.5mm)。
          b、对粉状、糊状、液状物质无特殊要求,配有专用试样测试盒。 
          c、所测较薄材料,可将样品进行叠加测试。
      13.采用全自动测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告输出。
      14.电源：AC 220V±10%，50/60 Hz, 整机功率：＜500w；
三、探头技术指标：
       1. 加热材料：金属镍；
       2. 使用温度：-50～150℃；
       3. 功率：20w；
       4. 电压：20V；
       5. 电流：1A；
       6. 电阻：10Ω左右，依探头上标注阻值为准；
       7. 镍丝规格：厚度0.01mm,热丝宽度：0.35±0.03mm；
                               热丝间距：0.35±0.03mm ；
       8. 保护层材料：聚酰亚胺薄膜（Kapton）；单层厚度：0.06mm；
       9. 探头直径：Φ15mm,Φ7.5mm两种。
       10.探头总厚度（包括粘结层厚度）0.07±0.02mm。