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GDAT-C 介电常数与介质损耗测试仪

型号
GDAT-C
北京北广精仪仪器设备有限公司

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生产厂家

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电阻率测试仪,电压击穿试验机,介电常数测试仪,TOC分析仪,拉力试验机,完整性测试仪,漏电起痕试验仪,落球回弹试验仪等电性能及力性能检测仪器
  我厂主要产品有:拉力材料试验机,海绵泡沫落球回弹试验机,海绵泡沫压陷硬度测验仪,海绵泡沫疲劳压陷试验机,熔融指数仪,塑料滑动摩擦磨损试验机,电压击穿试验仪,塑料球压痕硬度计,马丁耐热试验仪,海绵泡沫拉伸强度试验机,介电常数与介质损耗测试仪,电容率测试仪,体积表面积电阻率测试仪,低温脆性冲击试验仪,维卡热变形试验仪,哑铃制样机,阿克隆磨耗试验机,简支梁冲击试验机,悬臂梁冲击试验机,熔体流动速率仪,无转子硫化仪等。
 
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详细信息

介电常数与介质损耗测试仪  测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

介电常数与介质损耗测试仪  低频电桥

一般为高压电桥,这不仅是由于灵敏度的缘故,也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多,结果,绝大部分电压都施加在电容CxC}上,使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时,屏蔽必须接地,以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的,这个保护对于Ch来说是 的。

由于选择不同的接地方法,实际上形成了两类电桥。

仪器特点:

☆接线简单(正接法两根线,反接可使用一根线),所有电缆线均有接地屏蔽,所以都能拖地使用,测量电压缓升、缓降,全自动测量,结果直读,无须换算。

☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。

☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。

☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路,将矢量运算法与移相法结合,有效地消除强电场干扰对测量的影响,适用于500kV及其以下电站的现场试验。

CVT测量 自激法测量CVT功能,不需外加任何设备,可完成不可拆头CVT的测量。一次接线(三根电缆,不用倒线),一个测量过程(大约1分钟),两个最终测量结果(C1C2的介损及电容值)。测量过程中文显示,能实时监测自激电流值和试验电压(高压)值。能消除引线对测试的影响,测量结果准确可靠。

☆ 安全措施

1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。

2CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。

3)接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。

4)防误操作:具备防误操作设计,能判别常见接线错误,安全报警。

5)防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。

介电常数与介质损耗测试仪


VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器,在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单,操作提示各种警告信息,直观明了,不需查阅说明书即可操作。

☆打印 仪器附有微型打印机,以中文方式打印输出测量结果及状态。

RS232 仪器具有RS232接口,与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。

☆可选购与计算机通信应用程序。

高频西林电桥

  这种电桥通常在中等的电压下工作,是比较灵活方便的一种电桥;通常电容 CN是可变的(在高压电桥中电容 CN通常是固定的),比较容易采用替代法。

  由于不期望电容的影响随频率的增加而增加,因此仍可有效使用屏蔽和瓦格纳接地线路

高频电桥
由于它不再是一个高压电桥,因此承受电压
U1的臂能容易地引人可调元件;替代法在此适用
还应指出,带有分开的初级绕组的电桥允许电源和检测器互换位置。其平衡与在次级绕组中对应
的安匝数的补偿相符
.


电介质的用途

电介质一般被用在两个不同的方面:

用作电气回路元件的支撑,并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘;

用作电容器介质

主要配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一 套

西林电桥是测量电容率和介质损耗因数的 的装置。它可使用从低于工频(50 Hz-60 Hz)直至 100 kHz的频率范围,通常测定 50 pF-1 000 pF的电容(试样或被试设备通常所具有的电容)这是一个四臂回路(A. 1)。其中两个臂主要是电容(未知电容 Cx和一个无损耗电容C,)。另外两臂(通常称之为测量臂)由无感电阻R,和 R:组成,电阻 R,在未知电容 Cx的对边上,测量臂至少被一个电容 C,分流 一般地说,电容 C:和两个电阻R,R:中的一个是可调的

   如果采用电阻R、和()电容 C 的串联等值回路来表示电容 Cx,则图 A. 1所示的电桥平衡时导出 :

      R1

Cs=Cn·——

      R2

tanδx=ωCSRS=ωC1R1

如果电阻 R2一个电容C2分流,则tanδ = 的公式变为:

Tanδx=ωC1R1---ωC2R2

由于频率范围的不同,实际上电桥构造会有明显的不同。例如一个50 pF-1 000 pF的电容在50 Hz时的阻抗为 60 MΩ-3 MΩ,在 100 kHz时的阻抗为 3 000 Ω-1 500Ω.

频率为 100 kHz时,桥的四个臂容易有相同数量级的阻抗,而在 50 Hz-60 Hz的频率范围内则是不可能的。因此,出现了低频和(相对)高频两种不同形式的电桥.

介电常数与介质损耗测试仪


信号源频率覆盖范围


A

C

频率范围

10kHz~60MHz

0.1~160MHz

CH1

10~99.9999kHz

0.1~0.999999MHz

CH2

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

CH3

1~9.99999MHz

10~99.9999MHz

CH4

10~60MHz

100~160MHz

频率指示误差

3×10-5±1个字


高频电桥
由于它不再是一个高压电桥,因此承受电压
U1的臂能容易地引人可调元件;替代法在此适用
还应指出,带有分开的初级绕组的电桥允许电源和检测器互换位置。其平衡与在次级绕组中对应
的安匝数的补偿相符
.

离子晶体的损耗

离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。

紧密结构的晶体离子都排列很有规则,键强度比较大,如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等,在外电场作用下很难发生离子松弛极化,只有电子式和离子式的位移极化,所以无极化损耗,仅有的一点损耗是由漏导引起的(包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导)。这类晶体的介质损耗功率与频率无关,损耗角正切随频率的升高而降低。因此,以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等

结构松散的离子晶体,如莫来石(3Al2O3·2SiO2)、董青石(2MgO·2Al2O3·5SiO2)等,其内部有较大的空隙或晶格畸变,含有缺陷和较多的杂质,离子的活动范围扩大。在外电场作用下,晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动,产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动,形成热离子松弛,出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大,由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频,只能应用于低频场合。

安全措施

1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。

2CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。

3)接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。

4)防误操作:具备防误操作设计,能判别常见接线错误,安全报警。

5)防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。

振荡频率:

a.振荡频率范围:10kHz50MHz

b.频率分段(虚拟)

1099.9999kHz

100999.999kHz

19.99999MHz

1060MHz

c.频率误差:3×10-5±1个字。

介电常数与介质损耗测试仪


主要特点:

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,

标准配置:

高配Q表 一只  

试验电极  一只 (c类)

电感      一套(9只)

电源线    一条

说明书    一份

合格证    一份

保修卡    一份

电介质的用途

电介质一般被用在两个不同的方面:

用作电气回路元件的支撑,并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘;

用作电容器介质

带瓦格纳(Wagner)接地电路的西林电桥

A.2示出了使电桥测量臂接线端与屏蔽电位相等的方法。这种方法是通过使用外接辅助桥臂ZAZB(瓦格纳接地电路),并使这两个辅助桥臂的中间点 P接到屏蔽并接地。调节辅助桥臂(实际为

ZB)以使在 ZA ZB上的电压分别与电桥的电容臂和测量臂两端的电压相等.显然,这个解决方法包括两个桥即主桥 AMNB和辅桥 AMPB(ANPB)同时平衡。通过检测器从一个桥转换到另一个桥逐

次地逼近平衡而最终达到二者平衡.用这种方法精度可以提高一个数量级,这时,实际上该精度只决定于电桥元件的精密度平衡 用这种方法精度可以提高一个数量级,这时,实际上该精度只决定

于电桥元件的精密度

    必须指出,只有当电源的两端可以对地绝缘时才使用上述特殊的解决方法。如果不可能对地绝缘,则必须使用更复杂的装置(双屏蔽电桥)

特点:

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz(tanδ)(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

Q值量程自动/手动量程控制。

DPLL合成发生1kHz60MHz, 50kHz160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

为什么介电常数越大,绝缘能力越强?

因为物质的介电常数和频率相关,通常称为介电系数。

介电常数又叫介质常数,介电系数或电容率,它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说,介电常数越大,绝缘性能就越好。

注:这个性质不是  成立的。

对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。

但对于两个绝缘体就不一定了。

介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。

补充:

电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质,并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质,其相对介电常数约为80

对于时变电磁场,物质的介电常数和频率相关,通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数,介电系数或电容率,它是表示绝缘能力特性的一个系数

技术参数:

1Q值测量范围:11023

2Q值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档;

3.电感测量范围:1nH140mH

4.电容直接测量范围:1pF25nF???????

5.主电容调节范围:17pF240pF

6.准确度?150pF以下±1pF150pF以上±1%

7.信号源频率覆盖范围100kHz160MHz

8.合格指示预置功能范围:51000

9.环境温度:0℃~+40℃;

10.消耗功率:约25W;电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

11.信号源:?100KHZ-160MHZ

12.提供厂家  书原件及产品彩页。

13.电感组LKI-1,分别有0.05uH0.1μH0.5μH2.5μH10μH50μH100μH1mH5mH10mH十个电感组成。

14.介质损耗测试夹具:

A:4位数显式调节微杆;

B:极片尺寸:Φ50mm?或Φ38mm(二选一);

C:夹具损耗正切值≤4×1041MHz)。

15.液体杯

直径48mm?深度?7mm,可与S916下极片互换使用。

16.夹具工作特性

极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm可选;

极片间距可调范围:≥15mm;夹具插头间距:25mm±0.01mm;

夹具损耗正切值:≤4×1041MHz);

测微杆分辨率:≤0.001mm

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