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TAP1500 TAP1500 单端有源 FET 探头

型号
TAP1500

该企业相似产品

电子测试仪器
深圳市赛仪欧电子有限公司致力于电子测试测量领域,为客户提供的测试、高效的解决方案和全面的系统服务,提供通用测试产品有示波器、逻辑分析仪、信号源、交流/直流电源、数据采集器、交流/直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪等等。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案,专业提供的电磁兼容测试系统,电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统,并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式,涵盖测试仪器销售、计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务,产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天,科研院所大学等行业。我们严格遵循以优秀的产品去服务于客户,帮助客户选择的解决方案。随着越来越多的进口设备进入中国市场,在中国每年有数量众多的技术、价格昂贵的设备因为没有合理的配备而闲置,对于每一个面对竞争的企业来说,这种浪费是致命的。我们认为我们必须了解客户的需求,并提供行业内众多成熟的方案来帮助中小型企业客户实现的配置,同时提高产品的稳定性和可靠性,并降低产品开发成本和生产成本。深圳市赛仪欧电子有限公司通过与Keysight(是德)、Fluke(福禄克)、Tektronix(泰克科技)、Pacific(太平洋)、()、Yokogawa(横河)、Rohde-schwarz(罗德与施瓦茨)、Chroma(致茂电子)、FLIR(菲利尔)、 Keithley(吉时利)、GRAPHTEC(图技)、Testo(德图)、Faithtech(费思泰克)、ITECH(艾德克斯)、ZLG(致远电子)等厂商的合作,为客户提供专业、高效的产品应用解决方案、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。深圳市赛仪欧电子有限公司通过与业务伙伴的紧密合作,凭借便捷的进货渠道和服务网络,为客户提供专业的产品选型、技术支持、现场测试等快捷的本地化服务,成为了电子测试测量领域的综合服务商。

详细信息

TAP1500 Single-ended Active FET Probe provides excellent high-speed electrical and mechanical performance required for today's digital system designs.

Key features
  • Outstanding electrical performance
    • ≥1.5 GHz probe bandwidth
    • <267 ps rise time
    • ≤1 pF input capacitance
    • 1 MΩ input resistance
    • -8 V to +8 V input dynamic range
    • -10 V to +10 VDC input offset range
  • Versatile mechanical performance
    • Small compact probe head for probing small geometry circuit elements
    • DUT attachment accessories enable connection to SMDs as small as 0.5 mm pitch
    • Robust design for reliability
  • Easy to use
    • Connects directly to oscilloscopes with the TekVPI™ probe interface
    • Provides automatic units scaling and readout on the oscilloscope display
    • Easy access to oscilloscope probe menu display for probe status/diagnostic information, and to control probe DC offset
    • Remote GPIB/USB probe control through the oscilloscope
  • Applications
    • High-speed Digital Systems Design
    • Component Design and Characterization
    • Manufacturing Engineering and Test
    • Educational Research
    • Signals with Voltage Swings up to 16 V

1.5 GHz active probes for TekVPI™ probe interface

Specifically designed for use and direct connection to oscilloscopes with the TekVPI™ probe interface, the TAP1500 Active FET probe achieves high-speed signal acquisition and measurement fidelity by solving three traditional problems:
  • Lower DUT loading effects with ≤1 pF input capacitance and 1 MΩ input resistance
  • Versatile DUT connectivity for attaching to small SMDs
  • Preserves instrument bandwidth at the probe tip for ≤1 GHz oscilloscopes

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