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TAP1500 TAP1500 单端有源 FET 探头
- 型号
- TAP1500
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电子测试仪器
深圳市赛仪欧电子有限公司致力于电子测试测量领域，为客户提供的测试、高效的解决方案和全面的系统服务，提供通用测试产品有示波器、逻辑分析仪、信号源、交流/直流电源、数据采集器、交流/直流电子负载仪和频谱分析仪、安规测试、 电能质量分析仪以及数字万用表、功率分析仪、热成像仪、绝缘电阻测试仪等等。包括全套电磁兼容EMC测试和EMC整改的解决方案，专业提供的电磁兼容测试系统，电磁干扰EMI抗干扰EMS诊断系统，并提供专家级的技术和咨询服务。为各个工业领域提供创新服务模式，涵盖测试仪器销售、计量校准、维修维护以及面向企业级客户端的系统集成服务，产品覆盖通信、工业电子制造、新能源、微电子、 航空航天，科研院所大学等行业。我们严格遵循以优秀的产品去服务于客户，帮助客户选择的解决方案。随着越来越多的进口设备进入中国市场，在中国每年有数量众多的技术、价格昂贵的设备因为没有合理的配备而闲置，对于每一个面对竞争的企业来说，这种浪费是致命的。我们认为我们必须了解客户的需求，并提供行业内众多成熟的方案来帮助中小型企业客户实现的配置，同时提高产品的稳定性和可靠性，并降低产品开发成本和生产成本。深圳市赛仪欧电子有限公司通过与Keysight(是德)、Fluke(福禄克)、Tektronix(泰克科技)、Pacific(太平洋)、()、Yokogawa(横河)、Rohde-schwarz(罗德与施瓦茨)、Chroma(致茂电子)、FLIR(菲利尔)、 Keithley(吉时利)、GRAPHTEC(图技)、Testo(德图)、Faithtech（费思泰克）、ITECH（艾德克斯）、ZLG（致远电子）等厂商的合作，为客户提供专业、高效的产品应用解决方案、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。深圳市赛仪欧电子有限公司通过与业务伙伴的紧密合作，凭借便捷的进货渠道和服务网络，为客户提供专业的产品选型、技术支持、现场测试等快捷的本地化服务，成为了电子测试测量领域的综合服务商。
详细信息
TAP1500 Single-ended Active FET Probe provides excellent high-speed electrical and mechanical performance required for today's digital system designs.
Key features
- Outstanding electrical performance
- ≥1.5 GHz probe bandwidth
- <267 ps rise time
- ≤1 pF input capacitance
- 1 MΩ input resistance
- -8 V to +8 V input dynamic range
- -10 V to +10 VDC input offset range
- Versatile mechanical performance
- Small compact probe head for probing small geometry circuit elements
- DUT attachment accessories enable connection to SMDs as small as 0.5 mm pitch
- Robust design for reliability
- Easy to use
- Connects directly to oscilloscopes with the TekVPI™ probe interface
- Provides automatic units scaling and readout on the oscilloscope display
- Easy access to oscilloscope probe menu display for probe status/diagnostic information, and to control probe DC offset
- Remote GPIB/USB probe control through the oscilloscope
- Applications
- High-speed Digital Systems Design
- Component Design and Characterization
- Manufacturing Engineering and Test
- Educational Research
- Signals with Voltage Swings up to 16 V
1.5 GHz active probes for TekVPI™ probe interface
Specifically designed for use and direct connection to oscilloscopes with the TekVPI™ probe interface, the TAP1500 Active FET probe achieves high-speed signal acquisition and measurement fidelity by solving three traditional problems:- Lower DUT loading effects with ≤1 pF input capacitance and 1 MΩ input resistance
- Versatile DUT connectivity for attaching to small SMDs
- Preserves instrument bandwidth at the probe tip for ≤1 GHz oscilloscopes
