microSTAR-II MS-II辐射剂量计

作为患者质量保证计划的一部分，在次期间或之前，对计划剂量进行独立检定的理由众多，包括遵守专业治疗实践指南、降低风险、提高护理安全和质量等。

针对特定患者的剂量测量可提供重要信息，以便及早识别和修正提供规定剂量过程中的潜在错误或缺失。采用了LANDAUER(蓝道尔)的光释光(OSL)技术的nanoDot科研剂量计和microSTARii科研剂量测定系统，为体内剂量测定提供了一种简单、灵活的二极管或场效应晶体管(mosfet)的无线替代方案，还可以与QA模体一起使用以检定机器输出。

对于电路板的制造商和集成商而言，X射线检查过程中辐射剂量的危险在于高剂量对电路板的物理损伤。

另一个潜在的问题是一些细微且不易察觉的故障，例如位翻转，程序丢失，泄漏等，而故障的可能性很难评估，而且物理损坏通常肉眼难以察觉。对于一些关键的半导体设备，例如闪存，DRAM，微处理器等等，500 mGy（Si）的剂量就会造成损伤了。

因此，X射线检查过程中监测这些元器件所受辐照剂量，并确保剂量不超过规定阈值将对保护这些电子元器件起到至关重要的作用。阈值应考虑产品寿命期间的累计剂量。

LANDAUER蓝道尔开发的microSTAR®-ii剂量监测系统可用于监测电路板所受剂量。 该系统所使用的剂量计nanoDot®的小尺寸和坚固性能保证轻松地将其安装在电路板上的所需位置。